Спискок публикаций сотрудников ФТИАН за 2012 год

1. Амиров, И.И. Ключевые процессы технологии микросистемной техники : плазомохимические процессы глубокого анизотропного травления кремния / И.И.Амиров, О.В.Морозов, В.А.Кальнов, В.Ф.Лукичев, А.А.Орликовский // Интеграл. 2012. №4 (66). С.8-14.
2. Бердников, A.E. Новые нанокомпозитные материалы для тонкопленочного литий – ионного аккумулятора / A.E.Бердников, В.Н. Гусев, Т.Л. Кулова, А.В. Метлицкая, А.А. Мироненко, В.В. Наумов, А.С.Рудый, А.М. Скундин, А.Б. Чурилов // Интеграл. 2012. №4(66). С. 22-24.
3. Bogdanov, Y.I. ACCURACY CHARACTERISTICS FOR QUANTUM PROCESS TOMOGRAPHY USING SUPERCONDUCTOR PHASE QUBITS / Y.I.Bogdanov, S.A. Nuyanzin // Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 2012. Т. 76. № 2. С. 139-142.
4. Богданов, Ю.И. Характеристики точности томографии квантовых процессов с использованием сверхпроводниковых фазовых кубитов / Ю.И.Богданов, С.А. Нуянзин // Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2012. Т. 76. № 2. С. 164–168.
5. Богданов, Ю.И. Квантовая механика и развитие информационных технологий / Ю.И.Богданов, А.А.Кокин, В.Ф.Лукичев, А.А.Орликовский, И.А.Семенихин, А.Ю.Чернявский // Информационные технологии и вычислительные системы. 2012. №1. С.17-31.
6. Богданов, Ю.И. Квантовые шумы и контроль качества элементной базы квантовых компьютеров на сверхпроводниковых фазовых кубитах / Ю.И.Богданов, В.Ф. Лукичёв, С.А. Нуянзин, А.А. Орликовский // Микроэлектроника. 2012. Т.41. №6. С.387-398.
7. Богданов, Ю.И. Математическое моделирование влияния квантовых шумов на качество элементной базы квантовых компьютеров / Ю.И.Богданов, В.Ф.Лукичев, С.А.Нуянзин, А.А.Орликовский, А.С.Холево, А.Ю.Чернявский // В кн:Труды ФТИАН: Квантовые компьютеры, микро и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика, моделирование. Том 22; гл.ред. А.А.Орликовский; отв.ред. Ю.И.Богданов. - М.:Наука, 2012. - 152 с.- ISBN 978-5-02-038009-7.- С. 39-77.
8. Богданов, Ю.И. Поляризационные квантовые операции в анизотропной среде с дисперсией / Ю.И.Богданов, А.А.Калинкин, С.П.Кулик, Е.В.Морева, В.А.Шершулин, Л.В.Белинский // В кн:Труды ФТИАН: Квантовые компьютеры, микро и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика, моделирование. Том 22; гл.ред. А.А.Орликовский; отв.ред. Ю.И.Богданов. - М.:Наука, 2012. - 152 с.- ISBN 978-5-02-038009-7.- С.78-102.
9. Бучин, Э.Ю. Магнитооптические исследования гранулированных пленок Co-Cu / Э.Ю.Бучин, Д.А. Коканов, Н.С. Лапин, В.А. Папорков // Вестник ЯрГУ. Серия Естественные и технические науки. 2012. №1. С.4-12.
10. Volodin, V.A. Evolution of silicon and hydrogen bonding in silicon-rich nitride films prepared by plasma-enhanced chemical vapor deposition and annealed under high pressure / V.A.Volodin, A.A. Popov, A. Misiuk , H. Rinnert, M. Vergnat // Nanoscience and Nanotechnology Letters. 2012. V.4. P. 364-368.
11. Vyurkov, V. Quantum simulation of an ultrathin body field-effect transistor with channel imperfections / V.Vyurkov, I. Semenikhin, S. Filippov, and A. Orlikovsky // Solid-State Electronics. 2012. V. 70. Р.106–113. (doi: 10.1016/j.sse.2011.11.021.).
12. Svintsov, D. Hydrodynamic model for electron-hole plasma in graphene / D.Svintsov, V. Vyurkov, S. Yurchenko, T. Otsuji, and V. Ryzhii // Journal of Applied Physics. 2012. V. 111 №8. P.3715.
13. Zakharova, A. A. Optical anisotropy of InAs/GaSb quantum wells / A. A.Zakharova, I.Semenikhin, K. A. Chao // Journal of Experimental and theoretical physics. 2012. V.114. -N5. P.731-737 ; DOI:10.1134/S1063776112030090.
14. Zakharova, A.A. OPTICAL ANISOTROPY OF INAS/GASB BROKEN-GAP QUANTUM WELLS / A.A.Zakharova, I.A.Semenikhin, K.A.Chao // Журнал экспериментальной и теоретической физики. 2012. Т. 141. № 5. С. 840-847.
15. Морозов, О.В. Изготовление микроэлектромеханических устройств на основе технологии встроенной изоляции в пластине кремния / О.В.Морозов, А.В. Постников, И.И. Амиров, В.А. Кальнов // Нано- и микросистемная техника. 2012. № 7. С.15-19.
16. Kal’nov, V.A. Operation of an Electronic Lithograph in the Mode of a Scanning Electron Microscope / V.A.Kal’nov, Yu.A. Novikov, A.A.Orlikovsky // Russian Microelectronics. 2012. V. 41. No. 6. Р. 426–429.
17. Кальнов, В.А. РАБОТА ЭЛЕКТРОННОГО ЛИТОГРАФА В РЕЖИМЕ РАСТРОВОГО ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА / В.А.Кальнов, Ю.А.Новиков, А.А.Орликовский // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. № 6. С. 426.
18. Кокин, А.А. Анализ перспектив вариантов полномасштабных твердотельных квантовых регистров, использующих ядерные спины в качестве кубитов / А.А.Кокин // В кн:Труды ФТИАН: Квантовые компьютеры, микро и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика, моделирование. Том 22; гл.ред. А.А.Орликовский; отв.ред. Ю.И.Богданов. - М.: Наука, 2012. - 152 с.- ISBN 978-5-02-038009-7.- С.5-22.
19. Ломов, А.А. Рассеяние рентгеновских лучей модулированными структурами пористого кремния / А.А.Ломов, В.И. Пунегов, В.А. Караванский, А.Л. Васильев // Кристаллография. 2012. Т.57. № 2. С.232-240.
20. Lomov, A.A. X-RAY SCATTERING BY POROUS SILICON MODULATED STRUCTURES / A.A.Lomov, V.I.Punegov, V.A.Karavanskii, A.L.Vasilev // Crystallography Reports. 2012. Т. 57. № 2. С. 185-192.
21. Ломов, А.А. Характеризация структуры и оптических свойств микронных пористых слоев на подложках легированного сурьмой кремния / А.А.Ломов, М.А.Чуев, В.А.Балин, Б.В. Набатов, А.Л.Васильев // Микроэлектроника. 2012. Т.41. № 6. С. 413.
22. Кудря, В.П. Перспективы использования источников пучков быстрых нейтральных частиц в технологии микро- и наноэлектроники / В.П.Кудря, Ю.П. Маишев // В кн:Труды ФТИАН: Квантовые компьютеры, микро и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика, моделирование. Том 22; гл.ред. А.А.Орликовский; отв.ред. Ю.И.Богданов. - М.:Наука, 2012. - 152 с.- ISBN 978-5-02-038009-7.- С. 105-124.
23. Махвиладзе, Т.М. Неэмпирическое моделирование процессов химического осаждения пленок нитрида кремния в CVD реакторах / Т.М.Махвиладзе, М.Х. Минушев, М.Е.Сарычев // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. № 3. С.215-224.
24. Гольдштейн, Р.В. Моделирование влияния внутренних механических напряжений на скорость роста кислородных преципитатов в кремнии / Р.В.Гольдштейн, Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев // Известия высших учебных заведений. Серия: Материалы электронной техники. 2012. № 2. С.37-42.
25. Гольдштейн, Р.В. Деформационно-кинетическая модель преципитации кислорода в кремнии / Р.В.Гольдштейн, Т.М.Махвиладзе, М.Е.Сарычев // В кн:Труды ФТИАН: Квантовые компьютеры, микро и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика, моделирование. Том 22; гл.ред. А.А.Орликовский; отв.ред. Ю.И.Богданов. - М.:Наука, 2012. - 152 с.- ISBN 978-5-02-038009-7. - С.125-139.
26. Makhviladze, T.M. NONEMPIRICAL SIMULATION OF CHEMICAL DEPOSITION OF SILICON NITRIDE FILMS IN CVD REACTORS / T.M.Makhviladze, A.Kh.Minushev, M.E.Sarychev // Russian Microelectronics. 2012. Т. 41. № 3. С. 196-205.
27. Мордвинцев, В.М. ЭНЕРГОНЕЗАВИСИМАЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИ ПЕРЕПРОГРАММИРУЕМАЯ ПАМЯТЬ НА САМОФОРМИРУЮЩИХСЯ ПРОВОДЯЩИХ НАНОСТРУКТУРАХ С КРОССБАР-АРХИТЕКТУРОЙ / В.М.Мордвинцев // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. № 5. С. 351.
28. Морозов, А.В. ИЗУЧЕНИЕ ЗАВИСИМОСТИ МАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ПЛЕНОК ПЕРМАЛЛОЯ ОТ ТОЛЩИНЫ И УСЛОВИЙ ОБРАЗОВАНИЯ / А.В.Морозов, В.П.Алексеев, В.А.Папорков, В.А.Наумов // Известия Юго-Западного государственного университета. 2012. № 1-2. С. 48-59.
29. Рау, Э.И. Функция отклика и оптимальная конфигурация полупроводниковых детекторов отраженных электронов для сканирующих электронных микроскопов / Э.И.Рау, Н.А.Орликовский, Е.С.Иванова // Физика и техника полупроводников. 2012. Т.46. №6. С.829–832.
30. Сирик, А.В. Роль полярности среды в окислении (мет)акриловых эфиров / А.В.Сирик, А.Е.Никитина, С.Н.Леднев, Е.М.Плисс // Башкирский хим. журнал. 2012. Т. 19. № 2. С. 109-110.
31. Богоявленский, Д.А. Окисление гидроксиламинов пиперидинового ряда молекулярным кислородом / Д.А.Богоявленский, И.В.Тихонов, Е.М.Плисс, А.И.Русаков // Башкирский хим. журнал. 2012. Т. 19. № 2. С. 104-105.
32. Pliss, E. M. The kinetics and mechanism of reactions of aliphatic stable nitroxyl radicals with alkyl and peroxide radicals during styrene oxidation / E.M.Pliss, I. V.Tikhonov, A. I.Rusakov // Russian Journal of Physical Chemistry B. 2012. Vl. 6. No.3. P. 376-383.
33. Казнина, М.А. Кинетика и механизм ингибированного стабильными нитроксильными радикалами окисления винилпиридинов / М.А.Казнина, А.С.Копылова, А.М.Гробов, И.В.Тихонов, Е.М.Плисс // Башкирский хим. журнал. 2012. Т. 19. № 2. С. 127-128.
34. Морозов, О.В. Изготовление кремниевого чувствительного элемента микромеханического вибрационного гироскопа / О.В.Морозов, А.В. Постников, И.В. Уваров, И.А. Козин, И.И. Соловьёв, А.Н. Тарасов // Наноинженергия. 2012. №2. С.12-19.
35. Kulikauskas, V.S. Transformation of Defect Layer and Dopant Profile in Zinc Implanted Silicon during Thermal Annealing / V.S.Kulikauskas, V.V. Saraikin, D.V. Roshchupkin, V.V. Privezentsev // Crystallography Reports. V. 57. N7. pp. 903–908 (2012).
36. Привезенцев, В.В. Формирование наночастиц в кремнии методом ионного легирования цинком с последущим термическим отжигом / В.В.Привезенцев, В.С.Куликаускас, В.В.Затекин, П.Н.Черных, Д.В.Петров, А.В.Макунин, К.Д.Щербачев // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2012. № 4. С. 30.
37. Privezentsev, V.V. NANOPARTICLE PROCESS FORMATION IN ZINC IMPLANTED SILICON WITH FOLLOWED THERMAL ANNEALING / V.V.Privezentsev, V.S.Kulikauskas, V.V.Zatekin, P.N.Chernykh, D.V.Petrov, A.V.Makunin, K.D.Shcherbachev // Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2012. V. 6. № 2. P. 314-318.
38. Saraykin, V.V. Near Surface Layer Evolution in Zn+ Ions Implanted Si upon Annealing Treatments / V.V.Saraykin, K.D. Shcherbachev, D.V. Petrov, V.V. Privezentsev // Appl. Surf. Sci. : 11th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures. - 2012. - V.267. - P.97–100. - DOI: 10.1016/j.apsusc.2012.08.006 (2012).
39. Привезенцев, В.В. Иследование оптических свойств приповерхностного слоя в кремнии, имплантированного цинком, после термических отжигов / В.В.Привезенцев, М.В.Чукичев, .В.Миронов Ю.В.Кривенков // Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2012. Т. 76. № 9. С.1107-1110.
40. Залуцкая, А.А. Расщепление краевых мод в наносистемах / А.А.Залуцкая, А.В.Проказников // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. № 5. С. 331-339.
41. Vasilev, S.V. Study of Calcifying Nanoparticles Extracted from the Vorotilovskaya Well / S.V.Vasilev, A.B.Churilov, O.Y.Prikhodko, A.S.Rudy, N.V.Shekhovtsova, A.Y.A.Yagushkina // J. Mater. Sci. Eng. B. 2012. V. 2. No. 8. Р.464-470.
42. Куликов, Д.А. Формирование волнового нанорельефа при распылении поверхости ионной бомбардировкой. Нелокальная модель эрозии / Д.А.Куликов, А.С.Рудый // Модел. и анализ информ. систем. – 2012 - Т.1. №1. - C. 1-7
43. Гохберг, Г.С. Структурное описание технологического процесса электронно–лучевой литографии для формировании онтологической модели и построения базы знаний / Г.С.Гохберг, А.С.Рудый, А.А.Мироненко, В.И.Рудаков // Интеграл. 2012. № 2. Т. 64. С. 4-8.
44. Рудаков, В.И. Влияние отжига на формирование high-k диэлектрика в системе W/ультратонкий HfO2/Si-подложка / В.И.Рудаков, Е.А.Богоявленская, Ю.И.Денисенко // Письма в ЖТФ. 2012. Т. 38. Вып. 21. С. 48-55.
45. Рудаков, В.И. Формирование и методика исследования ультратонких слоев силицида кобальта в структурах Ti/Co/Ti, TiN/Ti/Co и TiN/Co на кремнии / В.И.Рудаков, Ю.И.Денисенко, В.В.Наумов, С.Г.Симакин // ЖТФ. 2012. Т.82. Вып. 2. С. 122-128.
46. Rudakov, V.I. Bistable behavior of silicon wafer in rapid thermal processing setup / V.I.Rudakov, V.V. Ovcharov, A.L. Kurenya, V.P. Prigara // Microelectronic Engineering. 2012. V. 93. P. 67-73
47. Рудаков, В.И. Влияние оптических свойств КНИ-структуры на температуру пластины при быстром термическом отжиге / В.И.Рудаков, В.В.Овчаров, В.П.Пригара // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. №1. С. 20 - 29.
48. Pliss, E.M. Kinetics and Mechanism of Reactions of Aliphatic Stable Nitroxides in Chemical and Biological Chain Processes / E.M.Pliss, I.V.Tikhonov, A.I.Rusakov. - In book «Nitroxides - Theory, Experiment and Applications». – InTech, 2012. – Р. 263-284.
49. Плисс, Е.М. Эффекты сольватации в жидкофазных реакциях нейтральных и отрицательно заряженных парамагнитных частиц / Е.М.Плисс, А.И.Русаков, А.С.Мендкович, А.В.Сирик. – М.: Мир, 2012. – 251 с.
50. Семенихин, И.А. Эффективный алгоритм решения уравнений Максвелла в двумерных периодических структурах / И.А.Семенихин // В кн:Труды ФТИАН: Квантовые компьютеры, микро и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика, моделирование. Том 22; гл.ред. А.А.Орликовский; отв.ред. Ю.И.Богданов. - М.:Наука, 2012. - 152 с.- ISBN 978-5-02-038009-7.- С.140-149.
51. Semenikhin, I. COMPUTATIONAL EFFICIENT RCWA METHOD FOR SIMULATION OF THIN FILM SOLAR CELLS / I.Semenikhin, V.Vyurkov, M.Zanuccoli, M.Benzi, E.Sangiorgi, C. Fiegna // Optical and Quantum Electronics. 2012. V. 44. № 3-5. P. 149-154.
52. Fedichkin, L. INFLUENCE OF QUANTUM EFFECTS ON ELECTRON TRANSPORT IN MOLYBDENUM NANOCONTACTS / L.Fedichkin, A.Borisov, A.Konin, R.Petrukhnenko, M.Chernyshev, V.Rubaev // Russian Microelectronics. 2012. Т. 41. № 1. С. 1-4.
53. Цуканов, А.В. NV-центры в алмазе. Часть I: Общие сведения, технология изготовления, структура спектра / А.В.Цуканов // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. №2. С. 104.
54. Tsukanov, A.V. Photon-assisted conditionality for double-dot charge qubits in a single-mode cavity / A.V.Tsukanov // Phys. Rev. A. 2012. V. 85. P. 012331. (11рр.)
55. Цуканов, А.В. NV-центры в алмазе. Часть II: Спектроскопия, измерения, квантовые операции / А.В.Цуканов // Микроэлектроника. 2012.Т. 41. №3. С. 163.
56. Цуканов, А.В. Квантовый регистр на основе алмазного волновода с NV-центрами / А.В.Цуканов, И.Ю.Катеев, А.А.Орликовский // В кн:Труды ФТИАН: Квантовые компьютеры, микро и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика, моделирование. Том 22; гл.ред. А.А.Орликовский; отв.ред. Ю.И.Богданов. - М.:Наука, 2012. - 152 с.- ISBN 978-5-02-038009-7.- С.23 -38.
57. Tsukanov, A.V. NV-CENTERS IN DIAMOND. PART I. GENERAL INFORMATION, FABRICATION TECHNOLOGY, AND THE STRUCTURE OF THE SPECTRUM / A.V.Tsukanov // Russian Microelectronics. 2012. Т. 41. № 2. С. 91-106.
58. Tsukanov, A.V. NV-CENTERS IN DIAMOND. PART II. SPECTROSCOPY, SPIN-STATE IDENTIFICATION, AND QUANTUM MANIPULATION / A.V.Tsukanov // Russian Microelectronics. 2012. Т. 41. № 3. С. 145-161.
59. Чуев, М.А. О термодинамике антиферромагнитных наночастиц на примере мессбауэровской спектроскопии / М.А.Чуев // Письма в ЖЭТФ. 2012. Т.95. №6. С. 323-329.
60. Chuev, M.A. ON THE THERMODYNAMICS OF ANTIFERROMAGNETIC NANOPARTICLES BY EXAMPLE OF MoSSBAUER SPECTROSCOPY / M.A.Chuev // Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters (JETP Letters). 2012. V. 95. № 6. P. 295-301.
61. Чуев, М.А. Многоуровневая релаксационная модель для описания мессбауэровских спектров наночастиц в магнитном поле / М.А.Чуев // Журнал экспериментальной и теоретической физики. 2012. Т.141. №4. С. 698-722.
62. Mischenko, I.N. Biotransformation and metabolism of magnetic nanoparticles in an organism from Mossbauer spectroscopy / I.N.Mischenko, M.A.Chuev // Journal of Physics: Conference Series. 2012. V.345. N.012026 (8pp).
63. Gabbasov, R.R. Study of interparticle interaction in conjugates of magnetic nanoparticles injected into the mice / R.R.Gabbasov, V.M.Cherepanov, M.A.Chuev, M.A.Polikarpov, V.Y.Panchenko // Hyperfine Interact. 2012. V.206. pp.71-74.
64. Mischenko, I.N. Mossbauer spectroscopy for characterizing biodegradation of magnetic nanoparticles in a living organism / I.N.Mischenko, M.A.Chuev, V.M.Cherepanov, M.A.Polikarpov // Hyperfine Interact. 2012. V.206. Р.105-108.
65. Polikarpov, M.A. Mossbauer spectroscopy of antiferromagnetic fluctuations in heavy fermion CePdSn. / M.A.Polikarpov, V.M.Cherepanov, M.A.Chuev // Solid State Phenomena. 2012. V. 190. P. 217-220.
66. Cherepanov, V.M. Relaxation Mossbauer spectroscopy of iron oxides nanoparticles in superferrimagnetic regime / V.M.Cherepanov, M.A.Chuev, M.A.Polikarpov, S.Yu. Shishkov // Solid State Phenomena. 2012. V. 190. P. 455-458.
67. Chuev, M.A. Biodegradation of nanoparticles in a body from Mossbauer and magnetization measurements / M.A.Chuev, V.M.Cherepanov, M.P.Nikitin, M.A.Polikarpov // Solid State Phenomena. 2012. V. 190. P. 725-728.
68. Gabbasov, R.R. Study of nature of paramagnetic doublet in Mossbauer spectra of mice liver using external magnetic field / R.RGabbasov, V.M.Cherepanov, M.A.Chuev, M.A.Polikarpov, M.P.Nikitin, S.M.Deyev, V.Y.Panchenko // Solid State Phenomena. 2012. V. 190. P. 729-732.
69. Чуев, М.А. Роль нескомпенсированного спина в формировании сверхтонкой структуры мессбауэровских спектров антиферромагнитных наночастиц / М.А.Чуев // Доклады АН. 2012. Т. 447. №1. С. 22-27.
70. Зорина, Д.Д. Влияние дозы кислорода и условий термообработки на формирование ионно-синтезированных боросиликатных слоев / Д.Д.Зорина, Н.П. Пронь, С.А. Кривелевич, В.И.Бачурин, А.Б. Чурилов // Известия Российской академии наук. Серия физическая. - 2012. - Т. 76. № 5. - С. 659-663.

1. Bachurin, V. The study of nanostructures formation on AlSi thin film structures under ion-plasma sputtering / V. Bachurin, I. Amirov, M. Izyumov, V. Naumov, S. Simakin // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P2-51.
2. Selyukov, R.V. Influence of the conditions of ion-plasma sputtering on the surface roughness of platinum film / R.V. Selyukov, V.V. Naumov, I.I. Amirov // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р.119.
3. Селюков, Р.В. Исследование топологии поверхности платиновой пленки с помощью СТМ до и после ее обработки в плазме ВЧ-индукционного разряда / Р.В. Селюков, В.В. Наумов, И.И. Амиров // XXIV Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ 2012). (Черноголовка, 29 Мая - 1 Июня 2012г.). - Черноголовка, 2012. - С. 244-245.
4. Shumilov, A. S. Modeling of the microstructures surface profile evolution at low-energy ion sputtering in Ar plasma / A. S. Shumilov, I. I. Amirov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P2-47
5. Uvarov, I.V. Size effect in multilayer metallic nanocantilevers / I.V. Uvarov, V.V. Naumov, I.I. Amirov // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р.118.
6. Uvarov, I. Resonance properties of multilayer metallic nanocantilevers / I. Uvarov, V. Naumov, I. Amirov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.O3-30.
7. Amirov, I. Plasma etching of silicon for MEMS and optical applications: comparison of RIE, Bosch and cryogenic processes / I.Amirov, V. Lukichev, V. Yunkin // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.03-34
8. Amirov, I. Formation of 3D high aspect ratio micro- and nanostructures in Si by plasma etching and thermal oxidation / Amirov I., V. Lukichev, M. Izyumov, E. Zhikharev, V. Kal'nov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - Р1-43.
9. Berdnikov, A.E. Incorporation in grow film previously produced nanosize particles during low frequency PECVD / A.E.Berdnikov, S.V.Vasilev, A.A.Mironenko, A.A.Popov, A.V.Perminov, V.D.Chernomordick, V.N.Gusev // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – P3-14.
10. Berdnikov, A.E. Memory cells on the basis of metal-insulator-semiconductor of structure with multilayer dielectric with same nanometer layers / A.E. Berdnikov, A.A. Popov, A.A. Mironenko, V.D. Chernomordick, A.V.Perminov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P2-17
11. Попов, А.А. Антигистерезис ВФХ и индуктивность МДП структур на основе многослойного диэлектрика / А.А. Попов, А.В. Перминов, А.Е. Бердников, А.А. Мироненко, В.Д. Черномордик // В сб.трудов VIII международной конференции "Аморфные и микрокристаллические полупроводники" (Санкт-Петербург, 2 - 5 июля 2012г.). - С.-Пб, 2012. - С.259-260.
12. Popov, A.A. Antihysteresis in voltage-capacitance characteristic of MIS with multilayer insulator / A.A.Popov, A.V.Perminov, A.A.Mironenko, A.E.Berdnikov, V.D.Chernomordick, V.N.Gusev // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Oral O2-9. Р.42.
13. Berdnikov, A.E. Technology features silicon nanostructured electrodes for lithium-ion batteries / A.E.Berdnikov, A.B.Churilov, V.N.Gusev, T.L.Kulova, A.A.Mironenko, V.V.Naumov, A.A.Popov, A.S.Rudy, A.M.Skundin // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р.125.
14. Бердников, А.Е. Технологические особенности изготовления анодов литий – ионных аккумуляторов на основе кремния / А.Е.Бердников, В.Н. Гусев, Т.Л. Кулова, А.А. Мироненко, В.В. Наумов, А.А. Попов, А.С.Рудый, А.М. Скундин, А.Б. Чурилов // Сб.трудов XII международной конференции «Фундаментальные проблемы преобразования энергии в литиевых электрохимических системах» Краснодар, 1-6 октября 2012 г. - С.115-117.
15. Bogdanov, Yu.I. Mathematical modeling of quantum noise and the quality of hardware components of quantum computers / Yu.I.Bogdanov, A.Yu.Chernyavskiy, A.S.Holevo, V.F.Luckichev, S.A.Nuyanzin, A.A.Orlikovsky // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.qL-04.
16. Bogdanov, Yu.I. Adequacy, completeness, and accuracy of quantum measurement protocols / Yu.I.Bogdanov, A.K. Gavrichenko // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.P2-06.
17. Bogdanov, Yu.I. Polarization quantum operations in an anisotropic medium with dispersion / Yu.I.Bogdanov,A.A. Kalinkin, S.P. Kulik, E.V. Moreva, V.A. Shershulin // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P2-07.
18. Bogdanov, Yu.I. Experimental study of echo effect in polarization transformations of qubits / Yu.I.,Bogdanov, A.Kalinkin, S.Kulik, E. Moreva, V.Shershulin // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P2-08.
19. Bogdanov, Yu.I. Mathematical modeling of polarization echo in optically anisotropic media / Yu.I.Bogdanov, A.A. Kalinkin, S.P. Kulik, E.V. Moreva, V.A. Shershulin, L.V. Belinsky // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P2-09.
20. Buchin, Ed. Influence of an external magnetic field on the structure of granular Co-Cu films deposited by ion-plasmа method / Ed.Buchin, D.Kokanov, V.Naumov // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р. 104-105.
21. Savinski, N. Effect of multi-walled carbon nanotube on tribological properties of field and lubricant / N.Savinski, M.Gitlin, A.Shornikov, V.Naumov, A.Zharov, A.Kiselev, D.Boikov, S.Vasilev // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р.153.
22. Borzdov, A.V. Monte Carlo simulation of charge carrier transport in deep submicron Si MOSFET / A.V.Borzdov, V.M.Borzdov, D.V.Pozdnyakov, D.S.Speransky, A.A.Orlikovsky, V.V.V'yurkov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P. P1-02.
23. Володин, В.А. Исследование состояния водорода и измерение его концентрации в пленках аморфного гидрогенизированного кремния с применением спектроскопии комбинационного рассеяния света / В.А.Володин, А.Х.Антоненко, Г.Н.Камаев, А.А.Попов // В сб.трудов VIII международной конференции "Аморфные и микрокристаллические полупроводники" (Санкт-Петербург, 2 - 5 июля 2012г.). - С.-Пб, 2012. - С.40-41.
24. Volodin, V.A. Laser pulse crystallization and optical properties of Si/SiO2 and Si/Si3N4 multilayer nano-heterostructures / V.A.Volodin, S.A. Arzhannikova, A.A. Gismatulin, G.N. Kamaev, A.H. Antonenko, S.G. Cherkova , S.A. Kochubei , A.A. Popov, H. Rinnert, M. Vergnat // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.O3-16.
25. Vyurkov, V. Quantum noise in field-effect nanotransistors / V. Vyurkov, S. Filippov, I. Semenikhin, A. Orlikovsky // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.W2-03.
26. Rudenko, M. Measurement of charge and spin qubits in a transistor channel / M. Rudenko, V. Vyurkov, S. Filippov, A. Orlikovsky // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P2-14.
27. Vyurkov, V. Effect of image charges on a space qubit evolution / M. Rudenko, S. Filippov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.q1-09.
28. Svintsov, D. Voltage-controlled surface plasmon-polaritons in double-graphene structures / D. Svintsov, I. Semenikhin, V. Vyurkov, V. Ryzhii, and T. Otsuji // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.O1-06.
29. Svintsov, D. Tunnel Graphene Field-Effect Transistor / D. Svintsov, V. Vyurkov, A. Burenkov, R. Oechsner, V. Lukichev, A. Orlikovsky // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P. P1-13.
30. Svintsov, D. Tunnel graphene field-effect transistor / D.Svintsov, V.Vyurkov , V.Ryzhii, T.Otsuji, A.Orlikovsky // 3-rd Int. symp. On graphene devices – ISGD-3, Saint-Aubin, France, 5-9 November, 2012.
31. Chaplygin, Ye. Ultimate sub-threshold slope of Schottky Barrier Field-Effect Transistors / Ye. Chaplygin, D. Svintsov, V. Vyurkov, A. Orlikovsky // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P. P1-04.
32. Зорина, Д. Д. Влияние дозы кислорода и условий термообработки на возможность создания нанокластерных систем в скрытом слое кремниевых структур / Д. Д. Зорина, Н. П. Пронь, С. А. Кривелевич // Труды XXII Международной конференции «Радиационная физика твёрдого тела (РФТТ-2012)» / под ред. Г.Г.Бондаренко. (Севастополь, 9–14 июля 2012 г.). - М.: ФГБНУ«НИИ ПМТ» - МИЭМ НИУ ВШЭ, 2012г., 712с. (ISBN 978-5-89671-019-6). - С.160-167.
33. Зорина, Д. Д. Контроль процессов образования интерметаллических соединений с помощью ионной бомбардировки / Д. Д. Зорина, Н. П. Пронь, С. А. Кривелевич, В.И.Бачурин // Труды XXII Международной конференции «Радиационная физика твёрдого тела (РФТТ-2012)» / под ред. Г.Г.Бондаренко. - (Севастополь, 9–14 июля 2012 г.). - М.: ФГБНУ«НИИ ПМТ» - МИЭМ НИУ ВШЭ, 2012г., 712с. (ISBN 978-5-89671-019-6). - С. 568-576.
34. Krivelevich, S. Nonlinear waves and structures induced by ion bombardment of solids / S.Krivelevich, D.Korshunova, N.Pron // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P. 03-38.
35. Никитина, А.Е. Полярные эффекты в реакциях окисления акриловых и метакриловых эфиров в жидкой фазе / А.Е.Никитина, С.Н.Леднев, А.В.Сирик // Материалы XIV Межд. научно-техн. конф. «Наукоемкие химические технологии – 2012». (Тула, Ясная Поляна, Куликово Поле, 21–25 мая 2012).- С. 78.
36. Бородин, Л.И. Диспропорционирование нитроксильных радикалов под действием серной кислоты / Л.И.Бородин, И.В.Тихонов // Материалы 65-й Всероссийской научно-технической конференции студентов, магистрантов и аспирантов высших учебных заведений с международным участием. (Ярославль, 18 апреля 2012 г.). - Ярославль: Изд-во ЯГТУ, 2012. Ч. 1. - С. 53.
37. Kudrya, V.P. Efficiency of fast neutral particle beam sources based on gas-phase charge exchange processes / V.P.Kudrya // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P2-52.
38. Lomov, A.A. A new possibility of high-resolution reciprocal space mapping for studies of structural defects / A.A.Lomov, V.P.Ulin, A.L.Vasiliev, M.A.Chuev, D.V.Novikov // 11th Biennial Conf. on High-resolution X-ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012). - St. Petersburg, Russia, 2012. - Book of Abstracts. - Р. 173.
39. Сивков, В.Н. Рентгеновские и синхротронные исследования пористого кремния / В.Н.Сивков, А.А.Ломов, Б.В.Набатов, С.В.Некипелов, О.В.Петрова, Д.В.Вялых, С.Л.Молодцов // Книга тезисов IX Международной конференции и VIII Школы молодых ученых «Кремний-2012». Санкт-Петербург, 9-13 июля 2012. - С. 259.
40. Ломов, А.А. Влияние структурных искажений пористых структур кремния на их оптические свойства / А.А.Ломов, М.А.Чуев, Б.В.Набатов, А.Л.Васильев // Книга тезисов IX Международной конференции и VIII Школы молодых ученых «Кремний-2012». Санкт-Петербург, 9-13 июля 2012. - С. 296-297.
41. Lomov, A. Fabrication and structural study of InxGa1-xAs layers on porous GaAs(001) substrates / A.Lomov, J.Grym, D.Nohavica, E.Hulicius, J.Pangrac, A.Orehov, A.Vasiliev // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P. 2-37.
42. Кальнов, В.А. Плазменные процессы глубокого травления кремния в технологии микросистемной техники / В.А.Кальнов, В.Ф.Лукичев, И.И.Амиров, А.К.Саломатин, В.М.Соловьев, Ю.В.Соловьев // Всеросс.науч-практ.конф."Навигация, наведение и управление летательными аппаратами". - М.-Раменское, 20-21 сент.2012. - С.78-79.
43. Shikolenko, Yu. Investigation of plasma etching of Si and SiO2 through electron resist ZEP-7000 / Yu.Shikolenko, A.Antonovich, D.Lapin, V.Lukichev // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - Р1-51.
44. Makoviychuk, M.I. Low-frequency noise spectroscopy as a diagnostic tool to study of surfaces. / M.I.Makoviychuk // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – P.138 - 139.
45. Маковийчук, М.И. Импульсная фликкер-шумовая спектроскопия низкоразмерных кремниевых структур с квантовыми эффектами / М.И.Маковийчук // Труды XIII Международной научно-практической конференции «Современные информационные и электронные технологии» (4-8 июня 2012г., Одесса). - Одесса: Политехпериодика, 2012. - С. 266.
46. Маковийчук, М.И. Экологический мониторинг газового и электромагнитного загрязнения окружающей среды / М.И.Маковийчук // Proceed. 5th Int. Scientific and Technical Conf. “Sensors Electronics and Microsystems Technology (SEMST-5)” – (June 4-8, 2012, Odessa, Ukraine). – С.272.
47. Маковийчук, М.И. Анализ результатов, проблем и перспектив импульсной фликкер-шумовой спектроскопии / М.И.Маковийчук // Proceed. 6th Int. Workshop “Relaxed, Nonlinear and Acoustic Optical Processes; Materials – Growth and Optical Properties” – RNAOPM-2012. (May 25 – 29, 2012, Lutsk, Ukraine). – Lutsk: Volyn University Press “Vezha”, 2012. – P.255 – 259.
48. Маковийчук, М.И. Локальные и коллективные структурные эффекты в оптоэлектронике / М.И.Маковийчук, А.А.Залуцкая, Д.Е.Афанасьева, В.А.Папорков, А.В.Проказников // Proceed. 6th Int. Workshop “Relaxed, Nonlinear and Acoustic Optical Processes; Materials – Growth and Optical Properties” – RNAOPM-2012. (May 25 – 29, 2012, Lutsk, Ukraine). – Lutsk: Volyn University Press “Vezha”, 2012. – P. 123-126.
49. Маковийчук, М.И. Дефектно-примесная фликкер-шумовая спектроскопия ионно-имплантированного кремния / М.И.Маковийчук // Труды XXII Международной конференции «Радиационная физика твёрдого тела (РФТТ-2012)» / под ред. Г.Г.Бондаренко. - (Севастополь, 9–14 июля 2012 г.). - М.: ФГБНУ«НИИ ПМТ» - МИЭМ НИУ ВШЭ, 2012г., 712с. (ISBN 978-5-89671-019-6). - С. 120-126.
50. Makoviychuk, M.I. Low-frequency noise spectroscopy as a diagnostic and prediction tool in surface physics, micro- and nanoelectronics / M.I.Makoviychuk // Труды VIII Международной конференции «Электроника и прикладная физика». (24 – 27 октября 2012г., Киев). – Киев: КНУ им. Т.Шевченко, 2012. – С. 84 – 85.
51. Маковийчук, М.И. Физические принципы импульсной фликкер-шумовой спектроскопии низкоразмерных кремниевых структур / М.И.Маковийчук // Тезисы докладов XXIV конференции «Современная химическая физика» (20 сентября - 1 октября 2012г., Туапсе). - М.: «Парк - медиа», 2012. - С.88.
52. Махвиладзе, Т.М. Modeling the electromigration and mechanical stresses in conductor lines containing impurities / Т.М.Махвиладзе, М.Е. Сарычев // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - С.Р2-43.
53. Махвиладзе, Т.М. Деградация и разрушение тонкометаллических слоев в твердотельных структурах на подложках кремния, используемых в нано- и оптоэлектронике / Т.М.Махвиладзе, М.Е. Сарычев // Книга тезисов IX Международной конференции и VIII Школы молодых ученых «Кремний-2012». Санкт-Петербург, 9-13 июля 2012. - UID 121. О4. 06.
54. Гольдштейн, Р.В. Моделирование кинетики неоднородной по объему преципитации кислорода в кристаллическом кремнии с учетом внутренних механических напряжений / Р.В.Гольдштейн, Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев // Книга тезисов IX Международной конференции и VIII Школы молодых ученых «Кремний-2012». Санкт-Петербург, 9-13 июля 2012. - UID 149, С. О1.15. (секционный).
55. Levin, V. Effect of the moist porous silicon oxide layer on the electrical characteristics of memory cells / V.Levin, V.Mordvintsev, S.Kudryavtsev // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P2-21.
56. Levin, V. Electrical properties of plasma-chemical silicon dioxide processed by boiling water in the metal-oxide-metal structure / V.Levin, V.Mordvintsev, S.Kudryavtsev // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – P. 130-131.
57. Miakonkikh, A. Comparative Investigation of Ultra-shallow Boron Implantation into Bulk Silicon and SOI Structures by PIII technique / A.Miakonkikh, K Rudenko, V.Rudakov, A.Orlikovsky // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.О3-19.
58. Miakonkikh, A. Properties of thin HfO2 gate dielectricformed in Atomic Layer Deposition process / A.Miakonkikh, A. Rogozhin, K. Rudenko, A. Orlikovsky // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.О3-24.
59. Miakonkikh, A. Deposition of HfO2 gate dielectric in ALD processes and its properties / A.Miakonkikh, A.Rogozhin, K.Rudenko, A.Orlikovsky // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р.25.
60. Miakonkikh, A. Instrumented wafer as a Langmuir multiprobe tool for lateral plasma homogeneity measurements in processing plasma reactors / A.Miakonkikh, S. Lisovsky, M. Rudenko, K. Rudenko // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.Р1-48.
61. Orlikovsky, A.A. New materials and structures in future ULSWI generation / A.A.Orlikovsky, V.V.Vyurkov // Int. Conf. “Micro- and Nanoelectronics – ICMNE-2012". - Oct. 2012, Zvenigorod, Russia, Book of Abstracts. - P. L1-01.
62. Дицман, С.А. Средняя и полная энергия отраженных электронов и контраст изображений в РЭМ в зависимости от угла детектирования» / С.А.,Дицман, С.В.Зайцев, А.Е.Лукьянов, Н.А.Орликовский, Э.И.Рау, О.А.Рогов // XXIV Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ 2012). (Черноголовка, 29 Мая - 1 Июня 2012г.). - Черноголовка, 2012. - C. 275.
63. Богоявленский, Д.А. Стабильные нитроксильные радикалы и гидроксиламины как ингибиторы окисления винильных мономеров / Д.А.Богоявленский, И.В.Тихонов, Е.М.Плисс // Материалы XIV Межд. научно-техн. конф. «Наукоемкие химические технологии – 2012» (Тула, Ясная Поляна, Куликово Поле, 21–25 мая 2012). - С. 31.
64. Никитина, А.Е. Эффекты сольватации при окислении винильных соединений / А.Е.Никитина, С.Н.Леднев, А.В.Сирик, Е.М.Плисс // Материалы Международной конференции молодых ученых и V школы им. академика Н.М. Эмануэля. Москва-Ереван, 9-12 октября 2012 г. - С. 198-199.
65. Привезенцев, В.В. Структура и свойства кремния, имплантированного ионами цинка, по данным АСМ, РЭМ и РФЭС / В.В.Привезенцев, В.С. Куликаускас, Д.В. Петров, А.Б. Путрик, А.Н. Макунин, П.Д.Черных, Ю.Ю. Лебединский // XXIV Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ 2012). (Черноголовка, 29 Мая - 1 Июня 2012г.). - Черноголовка, 2012. - С.123.
66. Привезенцев, В.В. Формирование наночастиц ZnO в структуре SiO2/Si методом имплантации ионами Zn / В.В.Привезенцев, В.С.Куликаускас, А.Б.Путрик, Д.В.Петров, П.Н.Черных, А.Н.Макунин, А.А.Шемухин // Тезисы докладов ХLII международной Тулиновской конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами (Москва, 29-31 мая 2012) / Под ред. проф. М.И. Панасюка. – М.: Университетская книга, 2012. – С.236.
67. Kaminski, P. Defect centers in semi-insulating Si:Zn revealed by HRPITS / P. Kaminski, R. Kozlowski, and V. Privezentsev // Book Abstr. of the 11th Intern.Workshop on Beam Inj. Ass. of Microstr. in Semicond. (BIAMS 2012). Annaba, Algeria. С. 49.
68. Privezentsev, V.V. Nanoparticles Formation in Si by Zn+ Ion Implantation / V.V. Privezentsev, K.D. Shcherbachev, V.S. Kulikauskas, D.V. Petrov, Yu.Yu. Lebedinskii // Abstr. Book of Intern. Workshop of Nano-scale Spectr.and Nanotechnol., ETH, Zurich, Switzerland, 2012. - P.53.
69. Privezentsev, V.V. NANOPARTICLE FORMATION in Si by Zn+ ION IMPLANTED with THERMAL TREATMENT / V.V. Privezentsev, V.S. Kulikauskas, D.V. Petrov // Book Abstr. of the Intern. Conf. Nanotechn. and Nanosci. (NANO 2012), Rhodos, Greece, 2008. P. P38.
70. Shcherbachev, K.D. Defect Structure Transformation During Thermal Annealing in a Surface Layer of Zn Implanted Si(001) substrates / K.D. Shcherbachev, V.V. Privezentsev, V.S..Kulikauskas, V.V. Zatekin // 11th Biennial Conf. on High-resolution X-ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012). - St. Petersburg, Russia, 2012. - Book of Abstracts. - Р. 327.
71. Baydakova, M.V. X-ray Diffraction Investigation of Zinc Diffusion Doped Silicon / M.V. Baydakova and V.V. Privezentsev // 11th Biennial Conf. on High-resolution X-ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012). - St. Petersburg, Russia, 2012. - Book of Abstracts. - Р. 378.
72. Привезенцев, В.В. ВЛИЯНИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ И АТМОСФЕРЫ ОТЖИГА НА ФОРМИРОВАНИЕ НАНОЧАСТИЦ В КРЕМНИИ МЕТОДОМ ИОННОГО ЛЕГИРОВАНИЯ ЦИНКОМ / В.В. Привезенцев, В.С. Куликаускас, В.В. Затекин, Д.В. Петров, А.В. Макунин, А.А. Шемухин, А.В. Путрик // Труды IV Всероссийской конференции “Физические и физико-химические основы ионной имплантации” (Новосибирск, 23-26 октября 2012). Новосибирск, 2012. - С. 66.
73. Афанасьева, Д.Е. Изменение магнитных свойств магнито-фотонных кристаллов световым воздействием / Д.Е.Афанасьева, В. А.Папорков, А.В.Проказников // Труды Международной научно-технической конференции «Нанотехнологии -2012». Таганрог, 2012. - С. 26-28.
74. Afanas’eva, D.E. Changing of magnetic properties in magneto-photonic crystals by light influence / D.E.Afanas’eva, A.N.Kuprianov, V.A.Paporkov, A.V.Prokaznikov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.P1-17.
75. Rogozhin, A. Nano-porous silicon produced by helium plasma immersion ion implantation as a material for photovoltaic applications / A.Rogozhin, A. Miakonkikh, K. Rudenko // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р.69.
76. Rogozhin, A. Photovoltaic properties of porous-Si:He/Si structure produced by plasma immersion ion implantation / A.Rogozhin, A.Miakonkikh, K.Rudenko // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.О3-36.
77. Sosnina, A. Y. Atomic-force microscopy for line edge roughness measurements / A. Y. Sosnina, A. E. Rogozhin, A. V. Miakonkikh // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.Р1-60.
78. Соснина, А.Ю. Исследование шероховатости боковой поверхности затвора транзистора с помощью АСМ / А.Ю.Соснина, А.Е.Рогожин // Труды 55-й научной конференции МФТИ (Москва-Долгопрудный-Жуковский, 19-25 ноября, 2012г.). - Физическая и квантовая электроника. - М.: МФТИ, 2012. - С.28-29. (ISBN 978-5-7417-0414-1).
79. Приходько, О.Ю. Исследование динамики кальцифицирующих наночастиц из Воротиловской глубокой научной скважины / О.Ю.Приходько, С.В.Васильев, А.С.Рудый, А.Б. Чурилов // 1-я международная конференция «Развитие нанотехнологий: задачи международных и региональных научно-образовательных и научно-производственных центров». Россия, Барнаул, 12-15 сентября 2012 г. Тезисы докладов. C. 34.
80. Rudakov, V. Effect of annealing on formation of high-k insulators in the W/ultrathin HfO2/Si (100) system / V.Rudakov, Yu.Denisenko, E.Bogoyavlenskaya, V.Naumov, S.Simakin // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р. 128.
81. Rudakov, V. Features of formation of high-k dielectric layer in the W/ultrathin HfO2/Si (100) structures under annealing / V.Rudakov, E.Bogoyavlenskaya, Yu.Denisenko, V.Naumov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.P2-39.
82. Руденко, К.В. Плазменно-иммерсионная ионная имплантация и ее перспективные применения в технологиях наноэлектроники и наноструктур / К.В.Руденко, В.Ф. Лукичев, А.А. Орликовский // Труды IV Всероссийской конференции “Физические и физико-химические основы ионной имплантации” (Новосибирск, 23-26 октября 2012). Новосибирск, 2012. - C.101.
83. Сирик, А.В. Эффекты сольватации в реакциях окисления акриловых и метакриловых эфиров / А.В.Сирик, С.Н.Леднев, А.И.Русаков // Материалы Международной конференции «Современные проблемы химической физики», посвященной 50-летию Института химической физики им. А.Б. Налбандяна НАН Респ. Армения. Ереван, 9-12 октября 2012 г. - С. 130-131.
84. Богоявленский, Д.А. Пятичленные циклические нитроксильные радикалы как ингибиторы окисления стирола / Д.А.Богоявленский, И.В.Тихонов, Е.М.Плисс // Материалы Международной конференции молодых ученых и V школы им. академика Н.М. Эмануэля. Москва-Ереван, 9-12 октября 2012 г. - С. 168-169.
85. Бородин, Л.И. Реакционная способность нитроксильных радикалов в процессе катализируемого кислотами диспропорционирования / Л.И.Бородин, И.В.Тихонов, Е.М.Плисс // Материалы Международной конференции молодых ученых и V школы им. академика Н.М. Эмануэля. Москва-Ереван, 9-12 октября 2012 г. - С. 170-171.
86. Бородин, Л.И. Кинетика катализируемого кислотами диспропорционирования нитроксильных радикалов / Л.И.Бородин, И.В.Тихонов, В.Д.Сень, Е.М.Плисс // Материалы Международной конференции «Современные проблемы химической физики», посвященной 50-летию Института химической физики им. А.Б. Налбандяна НАН Респ. Армения. Ереван, 9-12 октября 2012 г. - С. 116-117.
87. Trushin, O.S. Comparative study of ultrathin Co films grown by ion-plasma and magnetron sputtering / O.S. Trushin, V.F. Bochkarev, V.V. Naumov, S.V. Vasiliev and V.A. Paporkov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.Р1-18.
88. Trushin, O.S. The effect of technological factors on micromagnetic states of magnetic nanostructures / O.S. Trushin, V.V. Naumov, V.F. Bochkarev, N. Barabanova, V.A. Paporkov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.О2-07.
89. Trushin, O.S. Micromagnetic modeling of spin-valve structure with technological imperfections / O.S. Trushin, N. Barabanova, V.P. Alexeev // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – P2-6.
90. Trushin, O.S. Surface alloying during Pd/Cu(100) energetic deposition / O.S. Trushin, Т. Ala-Nissila, S.C. Ying, E.Granato // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р.83.
91. Trushin, O. Mechanisms of strain relief in Cu/Ni(100) heteroepitaxy / O. Trushin, T. Ala-Nissila, S-C. Ying , E. Granato // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.P2-46.
92. Kupriyanov, A.N. Molecular dynamics simulations of energy and impact angle of incidence of ions on the ion-plasma sputtering of copper / A.N. Kupriyanov, O.С.Trushin, I.I. Amirov // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р.82.
93. Kupriyanov, A.N. Molecular dynamics simulations of the low energy Ar ion-plasma sputtering of copper nanostructures / A.N. Kupriyanov, O.С.Trushin, I.I. Amirov // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P.P2-45
94. Иванова, Д.А. Взаимодействие между удаленными кубитами посредством фотонных сетей / Д.А.Иванова, А.В.Цуканов // Научная сессия НИЯУ МИФИ-2012: аннотации докладов : Т. 2: Проблемы фундаментальной науки. Стратегические информационные технологии. - Москва : НИЯУ МИФИ, 2011. - C. 57. (ISBN 978-5-7262-1626-3).
95. Катеев, И.Ю. Квантовые операции на зарядовых кубитах с электростатическим управлением в полупроводниковых резонаторах / И.Ю.Катеев, А.В.Цуканов // Научная сессия НИЯУ МИФИ-2012: аннотации докладов : Т. 2: Проблемы фундаментальной науки. Стратегические информационные технологии. - Москва : НИЯУ МИФИ, 2011. - C. 62. (ISBN 978-5-7262-1626-3).
96. Mischenko, I. Biodegradation of magnetic nanoparticles evaluated from Mossbauer and magnetization measurements / I.Mischenko, M.Chuev, V.Cherepanov, M.Polikarpov, V.Panchenko // 8th Int. Symp. on the Industrial Applications of the Mossbauer effect. Dalian, China, 2012. Programme and abstracts. Р.51.
97. Gabbasov, А. R. Determination of diameters of magnetic nanoparticles injected into mouse liver using combined analysis of Mossbauer and magnetization data / А R.Gabbasov, V.Cherepanov, M.A.Chuev, M.Polikarpov, M.Nikitin, S.Deyev, V.Panchenko // 8th Int. Symp. on the Industrial Applications of the Mossbauer effect. Dalian, China, 2012. Programme and abstracts. Р.101.
98. Polikarpov, D.M. A comparative analysis of efficiency of clearance of two types of exogenous iron from the rat brain by Mossbauer spectroscopy / D.M.Polikarpov, V.M.Cherepanov, M.A.Chuev, R.R.Gabbasov, V.A.Korshunov, V.Y.Panchenko // 8th Int. Symp. on the Industrial Applications of the Mossbauer effect. Dalian, China, 2012. Programme and abstracts. Р.104.
99. Yakunin, S.N. Simultaneous analysis of grazing incidence X-ray reflectivity and X-ray standing waves data from periodic multilayer systems / S.N.Yakunin, M.A.Chuev, I.A.Makhotkin, A.Yu.Seregin, E.M.Pashaev, E.Louis, R.W.E. van de Kruijs, F.Bijkerk, M.V.Kovalchuk // 11th Biennial Conf. on High-resolution X-ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012). - St. Petersburg, Russia, 2012. - Book of Abstracts. - Р. 115.
100. Makhotkin, I.A. The X-ray standing waves analysis of short period La/B- based multilayers / I.A.Makhotkin, S.N.Yakunin, M.A.Chuev, E.Zoethout, E.Louis, R.W.E. van de Kruijs, D.V.Novikov, A.Yu.Seregin, E.M.Pashaev, M.V.Kovalchuk, F.Bijkerk // 11th Biennial Conf. on High-resolution X-ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012). - St. Petersburg, Russia, 2012. - Book of Abstracts. - Р. 294.
101. Gabbasov, R. Biodegradation of magnetic nanoparticles in mouse liver from combined analysis of Mossbauer and magnetization data / R.Gabbasov, V.Cherepanov, M.Chuev, M.Polikarpov, M.Nikitin, S.Deyev, V.Panchenko // 9-th Int. Conf. on the “Scientific and clinical appl. of magnetic carriers”. Minneapolis, USA, 2012. Abstract Booklet, talk 62.
102. Polikarpov, D. Biodegradation of magnetic nanoparticles in rat brain studied by Mossbauer spectroscopy / D.Polikarpov, V.Cherepanov, M.Chuev, V. Korshunov, M.Nikitin, S.Deyev, V.Panchenko // 9-th Int. Conf. on the “Scientific and clinical appl. of magnetic carriers”. Minneapolis, USA, 2012. Abstract Booklet, poster 108.
103. Chuev, M.A. On the thermodynamics of antiferromagnetic nanoparticles and macroscopic quantum effects observed by Mossbauer spectroscopy / M.A.Chuev // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P. O2-05.
104. Mischenko, I. Characterization of nanoparticles in a media using multilevel models of magnetic dynamics / I.Mischenko, M.Chuev, V.Cherepanov, M.Polikarpov, V.Panchenko // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)". Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. - Book of Abstracts. - P. O2-06.
105. Чуев, М.А. Мессбауэровская спектроскопия магнитных наночастиц: от универсального качественного описания к реалистичным моделям магнитной динамики частиц разной магнитной природы и диагностике наноматериалов / М.А.Чуев // XII Межд. Конф. «Мессбауэровская спектроскопия и ее применения» (Суздаль, 6-10 декабря, 2012). - Суздаль, 2012. - Сб. материалов. - C. 24.
106. Мищенко, И.Н. Антиферромагнитные флуктуации в тяжелофермионном соединении CePdSn по данным мессбауэровской спектроскопии / И.Н.Мищенко, М.А.Чуев, М.А.Поликарпов, В.М.Черепанов // XII Межд. Конф. «Мессбауэровская спектроскопия и ее применения» (Суздаль, 6-10 декабря, 2012). - Суздаль, 2012. - Сб. материалов. - С. 35.
107. Габбасов, Р.Р. Разделение парциальных компонент мессбауэровского спектра магнитных наночастиц в печени мыши / Р.Р.Габбасов, В.М.Черепанов, М.А.Чуев, М.А.Поликарпов, В.Я.Панченко // XII Межд. Конф. «Мессбауэровская спектроскопия и ее применения» (Суздаль, 6-10 декабря, 2012). - Суздаль, 2012. - Сб. материалов. - С. 109.
108. Мищенко, И.Н. Мессбауэровская спектроскопия как метод диагностики магнитных наночастиц в живом организме / И.Н.Мищенко, М.А.Чуев, В.М.Черепанов, М.А.Поликарпов, В.Я.Панченко // XII Межд. Конф. «Мессбауэровская спектроскопия и ее применения» (Суздаль, 6-10 декабря, 2012). - Суздаль, 2012. - Сб. материалов. - С. 112.
109. Поликарпов, Д.М. Применение мессбауэровской спектроскопии для интерпретации результатов гистологического анализа железосодержащих соединений в головном мозге крысы / Д.М.Поликарпов, Р.Р.Габбасов, С.М.Деев, М.П.Никитин, В.А.Коршунов, В.М.Черепанов, М.А.Чуев, В.Я.Панченко // XII Межд. Конф. «Мессбауэровская спектроскопия и ее применения» (Суздаль, 6-10 декабря, 2012). - Суздаль, 2012. - Сб. материалов. - С. 118.
110. Залуцкий, А.А. Мессбауэровская спектроскопия природных магнетитов / А.А.Залуцкий, Р.Н.Кузьмин, М.А.Чуев // XII Межд. Конф. «Мессбауэровская спектроскопия и ее применения» (Суздаль, 6-10 декабря, 2012). - Суздаль, 2012. - Сб. материалов. - С. 148.