Спискок публикаций сотрудников ФТИАН за 2010 год

1. Зимин, С.П. САМОФОРМИРОВАНИЕ 0-D И 1-D НАНОСТРУКТУР ХАЛЬКОГЕНИДОВ СВИНЦА ПОД МАСКОЙ ТРАВЛЕНИЯ В ХОДЕ ПЛАЗМЕННОЙ ОБРАБОТКИ / С.П.Зимин, Е.С.Горлачев, И.И.Амиров, В.В.Наумов // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2010. Т. 10. № 1-2. С. 200-203.
2. Амиров, И.И. ПЛАЗМОХИМИЧЕСКОЕ ТРАВЛЕНИЕ ПРИРОДНОГО АЛМАЗА / И.И.Амиров, А.Н.Магунов // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2010. Т. 10. № 1-2. С. 228-231.
3. Богданов, Ю.И. Квантовая теория как унифицированная информационная модель статистических явлений / Дополнение к книге Бройер Х.-П., Петруччионе Ф. Теория открытых квантовых систем. - М.- Ижевск. РХД. - 2010. - С. 758- 814.
4. Bogdanov, Yu.I. Statistical Estimation of the Efficiency of Quantum State Tomography Protocols / Yu.I.Bogdanov, G. Brida, M. Genovese, S.P.Kulik, E.V.Moreva, A.P.Shurupov // Phys. Rev. Lett. 2010. V.105. 010404.
5. Bogdanov, Yu.I. et al. Statistical Estimation of Quantum Tomography Protocols Quality // arXiv: 1002.3477 [quant-ph]. 5 p.
6. Богданов, Ю.И. Оптимизация протокола статистического восстановления поляризационных кубитов / Ю.И.Богданов, С. П. Кулик, Е. В. Морева, И. В. Тихонов, А. К. Гавриченко // Письма в ЖЭТФ. 2010. Т.91. Вып.12. C.755-761.
7. Bogdanov, Y.I. OPTIMIZATION OF A QUANTUM TOMOGRAPHY PROTOCOL FOR POLARIZATION QUBITS / Y.I.Bogdanov, A.K.Gavrichenko, S.P.Kulik, I.V.Tikhonov, E.V.Moreva // Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters (JETP Letters). 2010. V. 91. № 12. PС. 686-692.
8. Богданов, А.Ю. Информационные аспекты интерференционных экспериментов «который путь» с микрочастицами / Ю.И.Богданов, К.А. Валиев, С.А. Нуянзин, А.К. Гавриченко // Микроэлектроника. 2010. Т.39. №4. С.243-264.
9. Bogdanov, Yu.I., Valiev K.A., Gavrichenko A.K., Nuyanzin S.A. INFORMATION ASPECTS OF "WHICH-PATH" INTERFERENCE EXPERIMENTS WITH MICROPARTICLES / Yu.I.Bogdanov, K.A.Valiev, A.K.Gavrichenko, S.A.Nuyanzin // Russian Microelectronics. 2010. V. 39. № 4. P. 221-242.
10. Брук, М.А. Механизм формирования и некоторые свойства тонких фторуглеродных пленок, нанесенных на пластины кремния путем электронно-лучевой полимеризации гексафторпропилена из паровой фазы / М.А.Брук, Е.Н. Жихарев, И.А. Волегова, А.В. Спирин, Н.В. Козлова, Э.Н. Телешов, В.А. Кальнов // Высокомолекулярные соединения. Серия Б. 2010. Т. 52. № 2. С. 330–335.
11. Bruk, M.A. THE MECHANISM OF FORMATION AND SOME PROPERTIES OF THIN FLUOROCARBON FILMS DEPOSITED ONTO SILICON PLATES BY ELECTRON-BEAM POLYMERIZATION OF HEXAFLUOROPROPYLENE FROM THE VAPOR PHASE / M.A.Bruk, I.A.Volegova, A.V.Spirin, N.V.Kozlova, E.N.Teleshov, E.N.Zhikharev, V.A.Kal'Nov // Polymer Science. Series B. 2010. V. 52. № 1-2. P. 81-85.
12. Vyurkov, V. Quantum computing based on space states without charge transfer / V.Vyurkov, S. Filippov, and L. Gorelik // Physics Letters A. 2010. V. 374. № 33. P. 3285-3291.
13. Zakharova, A. ELECTRON OPTICAL SPIN POLARIZATION IN BROKEN-GAP HETEROSTRUCTURES / A.Zakharova, K.A.Chao, I.Semenikhin // Proc. SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.75210W.
14. Semenikhina, I.A. INTERSUBBAND OPTICAL TRANSITIONS IN INAS/GASB QUANTUM WELLS / I.A.Semenikhina, A.A.Zakharova, K.A.Chao // Russian Microelectronics. 2010. Т. 39. № 1. С. 63-72.
15. Семенихин, И.А. МЕЖПОДЗОННЫЕ ОПТИЧЕСКИЕ ПЕРЕХОДЫ В КВАНТОВЫХ ЯМАХ ТИПА INAS/GASB / И.А.Семенихин, А.А.Захарова // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. № 1. С. 68-77.
16. Дегтярев, А.В. Математическое моделирование влияния шероховатости поверхности фокусирующего канала на угловые характеристики пучка быстрых нейтральных частиц / А.В.Дегтярёв, В.П.Кудря, Ю.П.Маишев // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. №6. С. 430-435.
17. Kudrya, V.P. EXCITATION MECHANISM OF THE B+ EMISSION LINE AT 345.1 NM IN LOW-TEMPERATURE PLASMAS / V.P. Kudrya // Proc.SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.752109.
18. Degtyarev, A.V. SIMULATION RESULTS FOR THREE NEUTRALIZATION CHANNEL DESIGNS OF A FAST NEUTRAL BEAM SOURCE / A.V.Degtyarev, V.P.Kudrya, Yu.P.Maishev // Proc.SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.75211G.
19. Маишев, Ю.П. Установка прецизионного реактивного ионно-лучевого травления наноструктур для автоэмиссионных приборов / Ю.П.Маишев, Ю.П.Терентьев, С.Л.Шевчук, Н.И.Татаренко, В.А.Голиков // Микроэлектроника. 2010. Т.39. №4. С.253-262.
20. Маковийчук, М.И. ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ ФЛИККЕР-ШУМОВОЙ ГАЗОВОЙ СЕНСОРИКИ / М.И.Маковийчук, А.Л.Чапкевич, А.А.Чапкевич // Русский инженер. 2010. № 26-27. С. 30-36.
21. Makhviladze, Т. Electromigration theory and its applications to integrated circuit metallization / Т.Makhviladze, M. Sarychev // Proc.SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.752117.
22. Валиев, К.А. Теория и моделирование нано- и микропроцессов разрушения тонкопленочных проводников и долговечность металлизации интегральных микросхем. Часть II. Деградация и объемное разрушение поликристаллической проводящей линии / К.А.Валиев Р.В. Гольдштейн, Ю.В. Житников, Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. № 3. С. 163-176.
23. Valiev, K.A. NANO-AND MICROMETER-SCALE THIN-FILM-INTERCONNECTION FAILURE THEORY AND SIMULATION AND METALLIZATION LIFETIME PREDICTION, PART 2: POLYCRYSTALLINE-LINE DEGRADATION AND BULK FAILURE / K.A.Valiev, R.V.Goldstein, Yu.VZhitnikov., T.M.Makhviladze, M.E.Sarychev // Russian Microelectronics. 2010. Т. 39. № 3. С. 145-157.
24. Makhviladze, Т. Projection photolithography modeling using the finite-difference time-domain approach / Т.Makhviladze, M.Sarychev // Proc.SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.752103.
25. Alekseev, I. Modeling of the interfacial separation work in relation to impurity concentrations in adjoining materials / I.Alekseev, T. Makhviladze, A. Minushev, M. Sarychev // Proc. SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.7521C.
26. Goldstein, R. The thermodynamic theory of interfacial adhesion between materials containing point defects // R.Goldstein, T.Makhviladze, M.Sarychev / Proc.SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.7521B.
27. Makhviladze, Т. Advanced atomic-scale simulation of silicon nitride CVD from dichlorosilane and ammonia / Т.Makhviladze, A. Minushev // Proc. SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.75211А.
28. Махвиладзе, Т.М. Моделирование влияния механических напряжений на кинетику роста кислородных преципитатов в кремнии / Т.М.Махвиладзе, М.Е. Сарычев // Математическое моделирование физико-механических процессов. - Вестник Пермского национального исследовательского политехнического университета. Механика. 2010. № 1. С. 35-49.
29. Yurchenko, V.V. Anisotrophic currents and flux jumps in high-Tc superconducting films with self-organized arrays of planar defects / V.V.Yurchenko, A.J. Qviller, P.B. Mozhaev, J.E. Mozhaeva, J.B. Hansen, C.S. Jacobsen, I.M. Kotelyanskii, A.V. Pan, T.H. Johansen // Physica C: Superconductivity and its Applications. 2010. V. 470. № 19. P. 799-802.
30. Мордвинцев, В. М. Влияние давления газовой среды и длительности управляющих импульсов на стабильность характеристик элементов памяти на основе электроформованных структур Si-SiO2-W / В. М.Мордвинцев, С.Е.Кудрявцев, В.Л.Левин, Л.А.Цветкова // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. № 5. С. 337-347.
31. Miakonkikh, А. Application of Langmuir probe technique in depositing plasmas for monitoring of etch process robustness and for end-point detection / А.Miakonkikh, K.Rudenko // Proc. SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.75210A.
32. Валиев, К.А. Кремниевая наноэлектроника: проблемы и перспективы / К.А. Валиев, В. В. Вьюрков, А. А. Орликовский // Успехи современной радиоэлектроники. 2010. №.6. С.7-22.
33. Валиев, К.А. ИЗМЕРЕНИЕ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ КРЕМНИЕВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ НАНОРЕЛЬЕФА С ПРОФИЛЕМ, БЛИЗКИХ К ПРЯМОУГОЛЬНОМУ, МЕТОДОМ ДЕФОКУСИРОВКИ ЭЛЕКТРОННОГО ЗОНДА РЭМ / К.А.Валиев, В.П.Гавриленко, Е.Н.Жихарев, М.А.Данилова, В.А.Кальнов, Ю.В.Ларионов, В.Б.Митюхляев, А.А.Орликовский, А.В.Раков, П.А.Тодуа, М.Н.Филиппов // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. № 6. С. 420-425.
34. Khorin, I.A. Hf-based barrier layers for Cu-metallization / I.A.Khorin, Yu. I.Denisenko, V.N.Gusev, A.A.Orlikovsky, A.E.Rogozhin, V.I.Rudakov, A.G.Vasiliev // Proc. SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.75210J-1.
35. Rogozhin, А.Е. CoSi2/TiO2/SiO2/Si gate structure formation / А.Е.Rogozhin, I.A Khorin, V.V. Naumov, A.A. Orlikovsky, V.V. Ovcharov, V.I. Rudakov, A.G. Vasiliev // Proce.SPIE. - 2010. - V. 7521. - P. 75210L. - doi:10.1117/12.854302
36. Aleksandrov, A.F. NONDESTRUCTIVE CONTACTLESS ELECTRON-BEAM DIAGNOSTICS OF MICROELECTRONIC DEVICE STRUCTURES / A.F.Aleksandrov, F.A.Luk'yanov, R.A.Sennov, S.A.Ditsman, E.I.Rau, N.A.Orlikovskii // Russian Microelectronics. 2010. Т. 39. № 5. С. 303-312.
37. Александров, А.Ф. ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВАЯ НЕРАЗРУШАЮЩАЯ БЕСКОНТАКТНАЯ ДИАГНОСТИКА ПРИБОРНЫХ СТРУКТУР МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ / А.Ф.Александров, С.А.Дицман, Ф.А.Лукьянов, Н.А.Орликовский, Э.И.Рау, Р.А.Сеннов // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. № 5. С. 327-336.
38. Zhikharev, E.N. MEASUREMENTS OF LINEAR DIMENSIONS OF SILICON NANORELIEF ELEMENTS WITH A NEAR-RECTANGULAR PROFILE BY DEFOCUSING THE ELECTRON PROBE OF A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE / E.N.Zhikharev, V.A.Kal'nov, A.A.Orlikovskii, V.P.Gavrilenko, M.A.Danilova, Yu.V.Larionov, V.B.Mityukhlyaev, A.V.Rakov, P.A.Todua, M.N.Filippov, K.A.Valiev // Russian Microelectronics. 2010. Т. 39. № 6. С. 394-400.
39. Borzdov, A.V. EFFECT OF A TRANSVERSE APPLIED ELECTRIC FIELD ON ELECTRON DRIFT VELOCITY IN A GAAS QUANTUM WIRE: A MONTE CARLO SIMULATION / A.V.Borzdov, D.V.Pozdnyakov, V.M.Borzdov, A.A.Orlikovsky, V.V.V'yurkov // Russian Microelectronics. 2010. Т. 39. № 6. С. 411-417.
40. Борздов, А.В. МОДЕЛИРОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ПОПЕРЕЧНОГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ НА ДРЕЙФОВУЮ СКОРОСТЬ ЭЛЕКТРОНОВ В GAAS КВАНТОВОЙ ПРОВОЛОКЕ / А.В.Борздов, Д.В.Поздняков, В.М.Борздов, А.А.Орликовский, В.В.Вьюрков // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. № 6. С. 436-442.
41. Орликовский, А.А. Критические элементы нанотранзисторов: физика, технология и материалы / А.А.Орликовский, В.Ф.Лукичев, К.В.Руденко, А.С.Рудый // Интеграл. 2010. № 4. С. 10.
42. Arkharova, N.A. AN ELECTRON DIFFRACTION AND HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY STUDY OF DEFECT STRUCTURE IN SILICON DOPED WITH TRANSITION METAL IMPURITIES / N.A.Arkharova, Y.V.Grigor'Ev, V.V. Privesentsev // Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 2010. Т. 74. № 7. С. 1024-1026.
43. Щербачев, К.Д. ИССЛЕДОВАНИЕ ЭВОЛЮЦИИ ДЕФЕКТНОЙ СТРУКТУРЫ СЛОЯ SI ПОСЛЕ ИМПЛАНТАЦИИ ИОНОВ 64ZN+ И ПОСЛЕДУЮЩИХ ТЕРМИЧЕСКИХ ОТЖИГОВ / К.Д.Щербачев, В.В.Привезенцев, В.В.Сарайкин, Д.А.Подгорный // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2010. № 4. С. 53-58.
44. Rudenko, K. PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING: INTRODUCTION / K.Rudenko // Proc.SPIE. - 2010. - V. 7521. - P.752101.
45. Рудаков, В.И. Влияние шероховатой поверхности кремниевой пластины на ее температуру при нагреве некогерентным излучением / В.И.Рудаков, В.В. Овчаров, И.П. Пригара // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. № 1. С. 3-13.
46. Semenikhin, I.A. MATHEMATICAL SIMULATION OF THE PROCESSES OF GENERATION OF "SHOCK WAVES" IN A TWO-DIMENSIONAL ELECTRON GAS IN THE CHANNEL OF A BALLISTIC FIELD-EFFECT TRANSISTOR / I.A.Semenikhin, E.A. Vostrikova // Russian Microelectronics. 2010. Т. 39. № 3. С. 158-164.
47. Семенихин, И.А. МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ ОБРАЗОВАНИЯ “УДАРНЫХ ВОЛН” В ДВУМЕРНОМ ЭЛЕКТРОННОМ ГАЗЕ В КАНАЛЕ БАЛЛИСТИЧЕСКОГО ПОЛЕВОГО ТРАНЗИСТОРА / И.А.Семенихин, Е.А.Вострикова // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. № 3. С. 177-183.
48. Jalkanen, J. Stress release mechanisms for Cuon Pd(111) in the submonolayer and monolayer regimes / J. Jalkanen, G. Rossi, O.Trushin, E.Granato, T. Ala-Nissila, S.-C. Ying // Physical Rev. B. 2010. V.81. P.041412.
49. Tsukanov, A.V. Indirect coupling in a cluster of quantum-dot-based charge qubits / A.V.Tsukanov // J. Comput. Theor. Nanosci. : A Special Issue on Technology Trends and Theory of Nanoscale Devices for Quantum Applications. 2010. V. 7. P. 1727.
50. Tsukanov, A.V. Quantum information transfer protocol via optimized single-electron transport in semiconductor nanostructure / A.V.Tsukanov // Quantum Computers and Computing. 2010. V. 10. P. 3.
51. Цуканов, А. В. Сверхпроводящие резонаторы и зарядовые кубиты: спектроскопия и квантовые операции. Часть I. / А.В.Цуканов // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. С. 404.
52. Tsukanov, A.V. SUPERCONDUCTING RESONATORS AND CHARGE QUBITS: SPECTROSCOPY AND QUANTUM OPERATIONS. PART I / A.V.Tsukanov // Russian Microelectronics. 2010. Т. 39. № 6. С. 378-393.
53. Aronzon, B.A. FERROMAGNETISM OF LOW-DIMENSIONAL MN-DOPED III-V SEMICONDUCTOR STRUCTURES IN THE VICINITY OF THE INSULATOR-METAL TRANSITION / B.A.Aronzon, M.A.Pankov, V.V.Rylkov, E.Z.Meilikhov, A.S.Lagutin, E.M.Pashaev, M.A.Chuev, V.V.Kvardakov, I.A.Likhachev, O.V.Vihrova, A.V.Lashkul, E.Lahderanta, A.S.Vedeneev, P.Kervalishvili // Journal of Applied Physics. 2010. V. 107. № 2. P. 023905.
54. Medvedev, P.G. EXPERIMENTAL SCHEME FOR OBSERVATION OF ANOMALOUS KOSSEL EFFECT IN SEMICONDUCTOR CRYSTALS / P.G.Medvedev, M.A.Chuev, M.V.Kovalchuk, E.M.Pashaev, I.A.Subbotin, S.N.Yakunin // Proc.SPIE. - 2010. - V. 7521. - P. 752115.
55. Chuev, M.A. MAGNETIC-NANOPARTICLE DIAGNOSTICS BASED ON ANALYSIS OF HYPERFINE STRUCTURE OF MOSSBAUER SPECTRA IN A WEAK MAGNETIC FIELD / M.A.Chuev, V.M.Cherepanov, M.A.Polikarpov // Doklady Physics. 2010. Т. 55. № 1. С. 6-12.
56. Чуев, М.А. Диагностика магнитных наночастиц на основе анализа сверхтонкой структуры мессбауэровских спектров в слабом магнитном поле / М.А.Чуев, В.М.Черепанов, М.А. Поликарпов // Доклады Академии наук. 2010. Т. 430. № 1. С. 40-46.
57. Chuev, M.A. DIRECT OBSERVATION OF ANOMALOUS KOSSEL LINES / M.A.Chuev, P.G.Medvedev, M.V.Koval'chuk, V.V.Kvardakov, E.M.Pashaev, I.A.Subbotin, S.N. Yakunin // Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters (JETP Letters). 2010. V. 91. № 4. P. 191-195.
58. Чуев, М.А.НЕПОСРЕДСТВЕННОЕ НАБЛЮДЕНИЕ АНОМАЛЬНЫХ ЛИНИЙ КОССЕЛЯ / М.А.Чуев, М.В.Ковальчук, В.В.Квардаков, П.Г.Медведев, Э.М.Пашаев, И.А.Субботин, С.С. Якунин // Письма в ЖЭТФ. 2010. Т. 91. № 4. С. 204-210.
59. Chuev, M.A. ON THE SHAPE OF THE GAMMA RESONANCE SPECTRA OF SLOWLY RELAXING NANOPARTICLES IN A MAGNETIC FIELD / M.A.Chuev, V.M.Cherepanov, M.A.Polikarpov // Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters (JETP Letters). 2010. V. 92. № 1. P. 21-27.
60. Чуев, M.А. 0 ФОРМЕ ГАММА-РЕЗОНАНСНЫХ СПЕКТРОВ МЕДЛЕННО РЕЛАКСИРУЮЩИХ НАНОЧАСТИЦ В МАГНИТНОМ ПОЛЕ / M.А.Чуев, В.M.Черепанов, M.A. Поликарпов // Письма в ЖЭТФ. 2010. Т. 92. № 1. С. 21-27.
61. Дедушенко, С.К. ИДЕНТИФИКАЦИЯ СОСТОЯНИЙ ОКИСЛЕНИЯ ЖЕЛЕЗА В ПРОДУКТАХ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ Nа2O2 И FE2O3 ПО МЕССБАУЭРОВСКИМ АБСОРБЦИОННЫМ СИСТЕМАМ / С.К.Дедушенко, Ю.Д.Перфильев, М.А.Чуев, А.М.Афанасьев // Журнал неорганической химии. 2010. Т. 55. № 6. С. 1009-1016.
62. Dedushenkoa, S.K. IDENTIFICATION OF IRON OXIDATION STATES IN THE PRODUCTS OF INTERACTION OF NA2O2 AND FE2O3 BY MOSSBAUER ABSORPTION SPECTROSCOPY / S.K.Dedushenkoa, Yu.D.Perfil'ev, M.A.Chuev, A.M.Afanas'ev // Russian Journal of Inorganic Chemistry. 2010. Т. 55. № 6. С. 942-949.
63. Чуев, М.А. ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ НАМАГНИЧЕННОСТЬ НАНОЧАСТИЦ В “СТАТИЧЕСКИХ” И ГАММА-РЕЗОНАНСНЫХ ИЗМЕРЕНИЯХ В СЛАБОМ МАГНИТНОМ ПОЛЕ / М.А.Чуев // Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2010. Т. 74. № 3. С. 318-322.
64. Chuev, M.A. HIGH-TEMPERATURE MAGNETIZATION OF NANOPARTICLES IN "STATIC" AND GAMMA-RESONANCE MEASUREMENTS IN A WEAK MAGNETIC FIELD / M.A.Chuev // Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 2010. Т. 74. № 3. С. 291-295.
65. Chuev, A. MOSSBAUER SPECTRA AND MAGNETIZATION CURVES OF NANOPARTICLES IN A WEAK MAGNETIC FIELD / M.A.Chuev // Journal of Physics: Conference Series. 2010. V. 217. № 1. P.012011.
66. Tebeneva, N.A. MOESSBAUER STUDY OF TRIS-(METHYLDIETOXYSILOXY)IRON AND ITS DERIVATIVES / N.A.Tebeneva, A.M.Muzafarov, E.S.Trofimchuk, S.K.Dedushenko, L.A.Kulikov, Yu.D.Perfiliev, M.A.Chuev // Journal of Physics: Conference Series. 2010. V. 217. № 1. P. 012040.
67. Polikarpov, M. MOSSBAUER SPECTRA OF HEMATITE AND MAGNETITE NANOPARTICLES IN POLYMER COMPOSITES / M.Polikarpov, V.Cherepanov, M.Chuev, S.Shishkov, S. Yakimov // Journal of Physics: Conference Series. 2010. V. 217. № 1. P. 012114.
68. Polikarpov, M.A. SUPER-FERRIMAGNETISM OF MAGNETITE NANOPARTICLES IN A WEAK MAGNETIC FIELD / M.A.Polikarpov, V.M.Cherepanov, M.A.Chuev, S.Yu.Shishkov, S.S.Yakimov // Journal of Physics: Conference Series. 2010. V. 217. № 1. P. 012115.

1. Орликовский, А. А. Кремниевая наноэлектроника: проблемы и перспективы / А.А.Орликовский // 3-я Школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" (Черноголовка, 26-29 мая 2010г.). - Черноголовка, 2010.
2. Морозов, О.В. Технология изготовления микроэлектромеханических устройств на основе изолированных областей в пластине кремния / О.В. Морозов, А.В. Постников, И.И. Амиров, В.А. Кальнов // Материалы 16 Международной научно-технической конференции «Высокие технологии в промышленности России» (Москва, 9-11 сентября 2010). - Москва, 2010. - С.205-210.
3. Postnikov, A. V. Characterization of electrostatically-actuated metal microbeams / A. V. Postnikov, I. V. Uvarov, I. I. Amirov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.P3-16.
4. Амиров, И.И. Влияние ионной бомбардировки на состав и свойства слоя, образующегося на поверхности кремния во фторуглеродной плазме / И.И. Амиров, А.Н. Куприянов А.С.Шумилов, Н.В. Алов. // Тезисы докладов VII Международной конференции по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе «КРЕМНИЙ–2010» (Нижний Новгород, 6–9 июля 2010г.) / под ред. З.Ф.Красильника, Д.А.Павлова. – Нижний Новгород: Изд-во Нижегородскогогосуниверситета, 2010. – С.246.
5. Izumov, M. Self-formation of microstructures at the deep quartz etching in high density fluorocarbon plasma / M. Izumov, I. Amirov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.O3-17.
6. Амиров, И.И. Формирование массивов наноигл на поверхности кремния при анизотропном, плазмохимическом его травлении через маску пленок хрома, кобальта и меди нанометровой толщины / И.И. Амиров, В.В. Наумов // Тезисы докладов VII Международной конференции по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе «КРЕМНИЙ–2010» (Нижний Новгород, 6–9 июля 2010г.) / под ред. З.Ф.Красильника, Д.А.Павлова. – Нижний Новгород: Изд-во Нижегородскогогосуниверситета, 2010. – С. 251
7. Aminov, I.I. Development of 3D-formation on the surface of SIMOX-structure of flicker-noise gas sensor / I.I.Aminov, M.I.Makoviychuk, E.O.Parshin // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р. P3-14.
8. Amirov, I.I. Plasma processing in micro- and nanoelectronics: process design, in situ process diagnostics, and concept of equipment / I.I.Amirov, S.N.Averkin, V.F.Lukichev, V.A.Kalnov, A.A.Orlikovsky, K.V. Rudenko // Nanotechnology International Forum (Moscow, 1-3 November, 2010). - Moscow, 2010. - Book of Abstracts.
9. Berdnikov, A.E. Switch conductivity effect in dielectric films with different incorporated clusters / A.E.Berdnikov, A.A.Popov, A.A.Mironenko, V.D.Chernomordick, A.V.Perminov, V.N.Gusev // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р. P3-2.
10. Berdnikov, A. Switching conductivity effect is promising direction of non-volatile memory devices creation / A.Berdnikov, A. Popov, V.Alekseev, A. Perminov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р. O3-18.
11. Бердников, А.Е. Влияние добавки азота на эффект переключения проводимости в МДП-подобных структурах на базе нестехиометрического кремния / А.Е.Бердников, А.А.Попов, А.А.Мироненко, А.В.Перминов, В.Д.Черномордик // Тезисы докладов VII международной конференции по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологи и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе (Нижний Новгород, 6-9 июля 2010). - Нижний Новгород, 2010. - С.160.
12. Попов, А.А. Эффект переключения проводимости в диэлектрических пленках: возможные механизмы / А.А. Попов, А.В. Перминов, А.Е. Бердников, А.А. Мироненко, В.Д. Черномордик // В сб.трудов VII международной конференции «Аморфные и микрокристаллические полупроводники. (Санкт-Петербург, 28 июня - 1 июля 2010г.). - С.-Пб, 2010.
13. Bogdanov, Yu.I. Adequacy, completeness and precision in problems of statistical reconstruction of quantum states / Yu.I.Bogdanov // XIII International Conference on Quantum Optics and Quantum Information. Kiev. May 28- June 01. 2010. Book of Abstracts. P.20.
14. Bogdanov, Yu.I. Optimization of quantum state tomography protocols with discrete variables / Yu. I. Bogdanov, S. P. Kulik, E. V. Moreva, I. V. Tikhonov, A. K. Gavrichenko // XIII International Conference on Quantum Optics and Quantum Information. Kiev. May 28- June 01. 2010. Book of Abstracts. P.17.
15. Bogdanov, Yu.I. Optimal qubit polarization states tomography / Yu. I. Bogdanov, S. P. Kulik, E. V. Moreva, I. V. Tikhonov, A. K. Gavrichenko // XIII International Conference on Quantum Optics and Quantum Information. Kiev. May 28- June 01. 2010. Book of Abstracts. P.75.
16. Bogdanov, Yu.I. Statistical properties of fidelity in quantum tomography protocols in Hilbert spaces of different dimensions / Yu.I.Bogdanov, I.D. Bukeev // XIII International Conference on Quantum Optics and Quantum Information. Kiev. May 28- June 01. 2010. Book of Abstracts. P.55.
17. Богданов, Ю.И. Численное моделирование качества интерференционной картины в экспериментах с квантовыми состояниями микрочастиц / Ю.И.Богданов, С.А.Нуянзин // Proc. of Int. Conference “Nanotechnologies – 2010”, Divnomorskoye, Russia, 19-24 Sept. 2010. С.12-14.
18. Брук, М.А. О реакционной способности мономеров и макрорадикалов при радикальной полимеризации на поверхности неорганических твердых тел / М.А.Брук // Пятая Всероссийская Каргинская Конференция "Полимеры - 2010" (Москва, 21 июня – 25 июня 2010 г.). - Тезисы докладов. - С.107.
19. Брук, М.А. Прямое нанесение рисунка литографической маски путем электронно-лучевого осаждения из паров гексилакрилата / М.А.Брук, Е.Н.Жихарев, А.В. Спирин, И.А.Волегова, Э.Н.Телешов, В.А.Кальнов // Тезисы докладов XVII Всероссийской конференции «Структура и динамика молекулярных систем". УФА – КАЗАНЬ - МОСКВА - ЙОШКАР-ОЛА. 28 июня - 02 июля 2010 г. - С.29.
20. Брук, М.А. Прямое нанесение рисунка литографической маски путем электронно-лучевого осаждения из паров гексилакрилата / М.А.Брук, Е.Н.Жихарев, А.В. Спирин, И.А.Волегова, Э.Н.Телешов, В.А.Кальнов // Структура и динамика молекулярных систем. Сборник статей. 2010. Т. 17. Ч. 1. г. Уфа-Казань-Москва-Йошкар-Ола. 2010. - С.364. (ISBN 978-5-9902117-6-62010).
21. Брук, М.А. Особенности реакции роста цепей в процессах радикальной полимеризации на поверхности твердых тел / М.А.Брук // Аннотации докладов XXII Симпозиума «Современная химическая физика» (24 сентября - 5 октября 2010, г.Туапсе). - С.34.
22. Брук, М.А. Особенности процессов радикального роста цепей при полимеризации на поверхности неорганических твердых тел / М.А.Брук // 2-я Всеросс.школа-конф.для молодых ученых “Макромолекулярные нанообъекты и полимерные нанокомпозиты” (24 – 29 октября 2010 г.) . Подмосковье, пансионат «Союз» (Газпром). 2010. Тез.докл. С.57.
23. Buchin, E.Yu. Investigation of surface morphology and magnetoresistance of the granular Co-Cu films deposited by ion-plasmic method / E.Yu. Buchin, V.F. Bochkarev, D.A. Kokanov, V.V. Naumov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.O2-8.
24. Валиев, К.А. Квантовые компьютеры: достижения и перспективы / К.А.Валиев, А.А.Кокин, Ю.И.Богданов // Научная сессия Отделения нанотехнологий. и информац. технологий РАН, 25 02 2010. Докладчик Ю.И.Богданов.
25. Валиев, К.А. Новая парадигма информационных технологий, основанная на квантовых компьютерах / К.А.Валиев, Ю.И.Богданов // Proc. of Int. Conference “Nanotechnologies – 2010”, Divnomorskoye, Russia, 19-24 Sept. 2010. С. 15-17
26. Вьюрков, В.В. От нанотранзистора к квантовым вычислениям / В.В.Вьюрков // 3-я Школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" (Черноголовка, 26-29 мая 2010г.). - Черноголовка, 2010. - Буклет. - С.19-20.
27. Zimin, S.P. Investigations of morphological and structural properties of porous nanostructured lead chalcogenide films fabricated with the variation of anodic electrochemical treatment conditions / S.P. Zimin, V.M. Vasin, E.S. Gorlachev, V.V. Naumov, E.Yu. Buchin // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.O3-9.
28. Zimin, S.P. Investigations of PbSe porous layers by scanning electron microscopy and atomic force microscopy. / S.P. Zimin, V.M. Vasin, E.S. Gorlachev, V.V. Naumov, E.Yu. Buchin.// Materials of the 7th International Conference «Porous Semiconductors –Science And Technology», Valencia, Spain, 14-19 March, 2010.
29. Кокин, А.А. Фуллерены как элементная база полномасштабных спиновых квантовых компьютеров (по состоянию на 2009 г.) / А.А.Кокин // ХХXШ Междунар. Зимняя школа физиков-теоретиков "Коуровка-2010". Екатеринбург. Пленарный доклад.
30. Kostyuchenko, V.V. Current induced transitions in molecular magnet V15. / V.V. Kostyuchenko // IV Euro-Asian Symposium “Trends in MAGnetism”: Nanospintronics. EASTMAG – 2010, June 28 – July 2, 2010, Ekaterinburg, Russia. - Р. 46.
31. Маковийчук, М.И. Методические и технологические особенности изготовления газочувствительных структур на основе кремния – фликкер-шумовых газовых сенсоров / М.И. Маковийчук // Proc. 5th Int. Workshop “Relaxed, Nonlinear and Acoustic Optical Processes; Materials – Growth and Optical Properties” – RNAOPM-2010. (June 01 – 05, 2010, Lutsk, Ukraine). – Lutsk: Volyn University Press “Vezha”, 2010. – P.174 – 177.
32. Маковийчук, М.И. Анализ результатов, проблем и перспектив фликкер-шумовой спектроскопии / М.И. Маковийчук // Proc. 5th Int. Workshop “Relaxed, Nonlinear and Acoustic Optical Processes; Materials – Growth and Optical Properties” – RNAOPM-2010. (June 01 – 05, 2010, Lutsk, Ukraine). – Lutsk: Volyn University Press “Vezha”, 2010. – P.178 – 181.
33. Маковийчук, М.И. Фликкер-шумовая спектроскопия – перспективный аналитический метод исследования поверхности / М.И.Маковийчук // Труды XI Международной научно-практической конференции «Современные информационные и электронные технологии» (24 – 28 мая 2010г., Одесса, Украина). – Одесса: ОНПУ, 2010. - Т.2. – С.113.
34. Makoviychuk, M.I. Potential applications of low-frequency noise spectroscopy to the development of flicker-noise gas microsensor / M.I.Makoviychuk // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р. P3-12.
35. Makoviychuk, M.I. Adsorption-desorption flicker noise spectroscopy / M.I.Makoviychuk // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р. P3-13.
36. Маковийчук, М.И. Новое поколение газоаналитических сенсоров / М.И.Маковийчук // Proceed. 4th Int. Scientific and Technical Conf. “Sensors Electronics and Microsystems Technology” – SEMST-4 (June 28- July 2, 2010, Odessa, Ukraine). – С.44.
37. Маковийчук, М.И. Новые подходы к формированию КНИ-фликкер-шумовых газовых сенсоров / М.И.Маковийчук // Труды XX Международного совещания «Радиационная физика твердого тела (РФТТ-2010)» (Севастополь, 5 июля – 10 июля 2010г.). - М.: ГНУ «НИИ ПМТ», 2010. – Т.2. - С. 518 – 525.
38. Маковийчук, М.И. Низкочастотно-шумовая спектроскопия структурно-неупорядоченных полупроводников / М.И.Маковийчук // Труды VII Международной школы-конференции «Актуальные проблемы физики полупроводников». (28 сентября – 1 октября 2010г., Дрогобыч, Украина). – Дрогобыч: ИФМИ ДДПУ, 2010. - С. 26 – 27.
39. Маковийчук, М.И. Адсорбционно-десорбционная фликкер-шумовая спектроскопия – перспективный метод экологического мониторинга окружающей среды / М.И.Маковийчук // Материалы докладов 41-го Международного научно-методич. семинара "Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах". М.: МЭИ, 2010. - С. 170 - 176.
40. Makoviychuk, M.I. Applied aspects of low-frequency noise spectroscopy / M.I.Makoviychuk // Труды VI Международной конференции «Электроника и прикладная физика». (20 – 23 октября 2010г., Киев). – Киев: КНУ им. Т.Шевченко, 2010. – С. 56 – 57.
41. Makoviychuk, M.I. Silicon-on-Insulator Flicker-Noise Gas Sensor / M.I.Makoviychuk // 6th International SemOI Conference and 1st Ukrainian-French Seminar “Semiconductor-On-Insulator materials, devices and circuits: physics, technology and diagnostics”, Book of Abstracts, 25-28 Oct. 2010, Kyiv, Ukraine. – P. 103 – 104.
42. Маковийчук, М.И. Физические основы SIMBOX - и SIMPOX – технологий / М.И.Маковийчук // Материалы III Всероссийской конференции «Физические и физико-химические основы ионной имплантации» (Нижний Новгород, 26 – 29 октября 2010 г.). – Н.-Новгород: НИФТИ, 2010. – С.72 – 73.
43. Соболев, Н.А. Фотолюминесценция в кремнии, имплантированном ионами эрбия при повышенной температуре / Н.А.Соболев, А.Е.Калядин, Е.И.Шек, В.И.Сахаров, И.Т.Серенков, Е.О.Паршин, М.И. Маковийчук // Материалы III Всероссийской конференции «Физические и физико-химические основы ионной имплантации» (Нижний Новгород, 26 – 29 октября 2010 г.). – Н.-Новгород: НИФТИ, 2010. – С.26 – 27.
44. Makhviladze, T. Modeling of IC Multilevel Metallization Degradation and Failure / T. Makhviladze, A. Orlikovsky // Int. Conf. Materials for Advanced Metallization (MAM-2010). - Abstacts, Mechelen, Belgium, 7-10 March 2010.
45. Gorlachev, E. S. Development of the atomic force microscopy research technique for the nanostructures on the vertical edge of thin insulating film / E. S.Gorlachev, V. M.Mordvintsev, V. L.Levin // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р. O3-15
46. Miakonkikh, A.V. Monitoring of wall contaminations in etch chamber by Langmuir probe technique with reference plasma / A.V.Miakonkikh, K.V.Rudenko, V.F.Lukichev, A.A.Orlikovsky // 3rd workshop on Plasma Etch and Strip in Microelectronics (PESM 2010). 4-5 Mar, GRENOBLE, France. - Book of Abstracts.
47. Orlikovsky, A. Quantum simulation of an FD ETSOI FET / A.Orlikovsky, V. Vyurkov, I. Semenikhin // 6th International SemOI Conference and 1st Ukrainian-French Seminar “Semiconductor-On-Insulator materials, devices and circuits: physics, technology and diagnostics”, Book of Abstracts, 25-28 Oct. 2010, Kyiv, Ukraine.
48. Orlikovsky, A. Quantum simulation of a field-effect nanotransistor / A. Orlikovsky, V. Vyurkov, I. Semenikhin // Nanotechnology International Forum (Moscow, 1-3 November, 2010). - Moscow, 2010. - Book of Abstracts.
49. Орликовский, А.А. Теоретические и технологические основы создания нанотранзисторов с проектными нормами менее 45 нм / А.А.Орликовский, В.Ф.Лукичев, К.В.Руденко // Труды науч. конф.РФФИ «Результаты целевых ориентированных фундаментальных исследований и их использование в российской промышленности: Материалы ежегодной научной конференции (19–23 апреля 2010, г. Таганрог). - Таганрог: Изд-во ТТИ ЮФУ, 2010. - ISBN 978-5-8327-0375-6
50. Shcherbachev, K. THE INVESTIGATION OF DECOMPOSITION OF SUPERSATURATED SI SOLID SOLUTION BY X-RAY DIFFUSE SCATTERING / K.Shcherbachev, V.Privezentsev // В сборнике: AIP Conference Proceedings 20th International Congress on X-ray Optics and Microanalysis, ICXOM20. Сер. "X-ray Optics and Microanalysis - Proceedings of the 20th International Congress, ICXOM20" sponsors: Research Center Karlsruhe (FZK) - Program NUCLEAR, Eur. Jt. Res. Cent. Inst. Transuranium Elem., Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG), European Microbeam Analysis Society (EMAS), HORIBA - Jobin Yvon GmbH. Karlsruhe, 2010. Р. 150-153.
51. Проказников, А. В. Усиление эффективности фотоэлектрических элементов наноструктурированием поверхности / А. В.Проказников, Е. И.Ваганова, В.А.Папорков, Н.А.Рудь, А.С.Рудый, М. И.Маковийчук // Proc. Fifth Int. Workshop “Relaxed, Nonlinear and Acoustic Optical Processes; Materials – Growth and Optical Properties” – RNAOPM-2010. (June 01 – 05, 2010, Lutsk, Ukraine). – Lutsk: Volyn University Press “Vezha”, 2010. – P. 118-122.
52. Prokaznikov, A. V. Studying of current flow mechanism in structures with conductivity switching effect / A.V.Prokaznikov, A.A.Popov, A.A.Mironenko, A.V.Perminov, A.E.Berdnikov, V.D. Chernomordick // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.P3-2.
53. Rudenko, K.V. Plasma Immersion Ion Implantation: Applications for Nanoelectronics / K.V.Rudenko, V.F.Lukichev // Proc. of Int. Conference “Nanotechnologies – 2010”, Divnomorskoye, Russia, 19-24 Sept. 2010. Part 2. Р. 108.
54. Boyadzhi, V. Study of the amorphization effects in silicon surface layer at PAI step for process of ultra shallow boron doping / V. Boyadzhi, A. Starosek, and K. Rudenko // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р. P2-2.
55. Bogoyavlenskaya, E. The W/HfO2/Si(100) structures fabricated by RF magnetron sputtering / E. Bogoyavlenskaya, Yu. Denisenko, V. Naumov, V. Rudakov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.O1-4.
56. Ovcharov, V. Diffusion simulation during RTA of plasma immersion ion implanted borom in SOI structure / V. Ovcharov, V. Rudakov, A. Kurenya, S. Simakin // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.P3-16.
57. Prigara, V. SOI doping and its influrnse on a wafer temperature during RTA / V. Prigara, V. Ovcharov, V. Rudakov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.O3-17.
58. Denisenko, Yu. Redistribution of constituent elements during Co silicidation process in Ti/Co/Ti/Si(100) systems / Yu. Denisenko, V. Naumov, S. Simakin, V. Rudakov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.O3-3.
59. Paporkov, V. A. Effectiveness enhancement of plasmonic photovoltaic elements by surface nanostructuring / V. A.Paporkov, N. A.Rud, A.S.Rudy, E. I.Vaganova, A. V.Prokaznikov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.O1-2.
60. Ваганова, Е.И. Усиление фотоэлектрического отклика наноструктурирование поверхности / Е.И.Ваганова, А.А.Мироненко, В.А.Папорков, Н.А.Рудь, А.С.Рудый, А.В. Проказников // Тезисы докладов VII Международной конференции по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе «КРЕМНИЙ–2010» (Нижний Новгород, 6–9 июля 2010г.) / под ред. З.Ф.Красильника, Д.А.Павлова. – Нижний Новгород: Изд-во Нижегородскогогосуниверситета, 2010. – С. 249.
61. Savinski, N. Scalable up process production carbon nanotube CNT by means catalytic pyrolysis ethanol on heterogeneous catalyst / N. Savinski, M. Gitlin, A. Rusakov, V. Naumov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.03-16
62. Savinski, N. Solution combustion synthesis of nano oxide catalysts for growth carbon nano tube and nano wire / N. Savinski, V. Naumov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.P3-8
63. Savinski, N. Nano particle Ag has been prepared by photo - polyol methods / N. Savinski, V. Naumov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.P3-10
64. Savinski, N. Carbon nanotube emitter matrixs based autoemission devices / N. Savinski, M.Gitlin // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.P3-11
65. Savinski, N. Template synthesis of water soluble PANI / N. Savinski // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.3P-8
66. Savinski, N. Growth of carbon nanotubes on multilayers films surface / N. Savinski, M. Gitlin, A. Rusakov, V. Naumov, V.Orlov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.P3-6
67. Savinski, N. Design of 3d nano-carbon emitter based autoemission devices / N. Savinski // Материалы 16 Международной научно-технической конференции «Высокие технологии в промышленности России» (Москва, 9-11 сентября 2010). - Москва, 2010. - С.241-246
68. Савинский, Н.Г. Матричный синтез водорастворимого полианилина / Н.Г.Савинский // Материалы 16 Международной научно-технической конференции «Высокие технологии в промышленности России» (Москва, 9-11 сентября 2010). - Москва, 2010. - С.273-282
69. Svintsov, D. EFFECT OF “MEXICAN HAT” ON GRAPHENE BILAYER FIELD-EFFECT TRANSISTOR CHARACTERISTICS / D. Svintsov, V. Vyurkov, V. Ryzhii, and T. Otsuji // International Symposium on Graphene Devices (Oct. 27-29 2010, Sendai, Japan). - Book of Abstracts, 2010.
70. Semenikhin, I. Advanced T-matrix method for quantum simulation of nanoscale field-effect transistors / I. Semenikhin, V. Vyurkov, A. Orlikovsky // Proceedings of 14th International Workshop on Computational Electronics (IWCE’2010). (October 27th-29th, 2010, Pisa, Italy). - Book of Abstr. - Р.117-120. - Organiz - by IEEE.
71. Semenikhin, I. Efficient Implementation of the Fourier Modal Method (RCWA) for the Optical Simulation of Optoelectronics Devices / I. Semenikhin, V. Vyurkov, M. Zanuccoli, E. Sangiorgi, C. Fiegna Proceedings of 14th International Workshop on Computational Electronics (IWCE’2010). (October 27th-29th, 2010, Pisa, Italy). - Book of Abstr. - Organiz - by IEEE.
72. Trushin, O.S. Optimization of spin-valve structures for GMR sensor applications / O.S. Trushin, V.V. Naumov, E.Yu. Buchin, V.F. Bochkarev // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.O2-6.
73. Trushin, O.S. Effect of misfit dislocation on surface diffusion / O.Trushin, M. Aminpour, T.S. Rahman // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010.
74. Filippov, S. Towards SemOI-based Quantum Computers / S. Filippov and V. Vyurkov // 6th International SemOI Conference and 1st Ukrainian-French Seminar “Semiconductor-On-Insulator materials, devices and circuits: physics, technology and diagnostics”, Book of Abstracts, 25-28 Oct. 2010, Kyiv, Ukraine.
75. Filippov, S. SILICON-ON-INSULATOR STRUCTURE FOR QUANTUM COMPUTING / S. Filippov and V. Vyurkov // Nanotechnology International Forum (Moscow, 1-3 November, 2010). - Moscow, 2010. - Book of Abstracts.
76. Khorin, I.A. Hf-based barrier layers for Cu-metallization / I.A. Khorin, A.A.Orlikovsky, A.E. Rogozhin, K.V. Rudenko, V.I. Rudakov, A.G. Vasiliev // Int. Conf. Materials for Advanced Metallization (MAM-2010). - Abstacts, Mechelen, Belgium, 7-10 March 2010.
77. Horin, I. Изучение особенностей наноразмерной затворной структуры Cu/HfO2/Si, сформированной методом вакуумного осаждения / I.Horin, V.Naumov, V.Gusev, A.Berdnikov // Тезисы докладов межрегиональной научной конференции «Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника». - Ярославль: ЯрГУ, 2010.
78. Chuev, M.A. INTERPRETATION OF THE MoSSBAUER SPECTRA OF THE MAGNETIC NANOPARTICLES IN MOUSE SPLEEN / M.A.Chuev, V.M.Cherepanov , I.N.Mischenko, M.A.Polikarpov, V.Y.Panchenko, S.M.Deyev, M.P.Nikitin // В сборнике: AIP Conference Proceedings 8th International Conference on the Scientific and Clinical Applications of Magnetic Carriers. Сер. "8th International Conference on the Scientific and Clinical Applications of Magnetic Carriers" Rostock, 2010. Р. 322-328.
79. Nikitin, M. MAGNETIC NANOPARTICLE DEGRADATION IN VIVO STUDIED BY MoSSBAUER SPECTROSCOPY / M.Nikitin, S.Deyev, R.Gabbasov, V.Cherepanov, M.Chuev, M.Polikarpov, V.Panchenko // В сборнике: AIP Conference Proceedings 8th International Conference on the Scientific and Clinical Applications of Magnetic Carriers. Сер. "8th International Conference on the Scientific and Clinical Applications of Magnetic Carriers" Rostock, 2010. Р. 401-407.
80. Stepanov, V. Electron-hole plasma in a one-dimensional parallel wires system / V. Stepanov, A. Churilov // Proc.Int.Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures – ICMPSN-2010 (June 08 – 10, 2010, Yaroslavl). – Yaroslavl:YB IPT RAS, 2010. - Р.P3-19
81. Орликовский, А.А. Проблемы современной наноэлектроники: технология, диагностика, оборудование / А.А.Орликовский // Международная научно–техническая конференция «Проектирование систем на кристалле: тенденции развития и проблемы» и научная школа для молодежи (Зеленоград, 19 – 21 октября 2010 г.). - Зеленоград, 2010. - (приглашенный доклад).